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Volumn , Issue , 2006, Pages

Over-Gb/s mesa-structure APDs with high reliability

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AVALANCHE PHOTO-DIODES; HIGH RELIABILITIES; HIGH-SPEED;

EID: 65249164407     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ECOC.2006.4801238     Document Type: Conference Paper
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    • 4 IEEE 802.3ah standards
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.