Réflexion et fluorescence X: Une complémentarité au profit de la caractérisation des surfaces

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 118, Issue , 2004, Pages 149-155

  Zerrouki, C ^a   Chassevent, M ^a   Fourati, N ^a   Tollens, E ^a   Bonnet, J J ^a  

^a University of Paris Cité   (France)

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EID: 59349085638     PISSN: 11554339     EISSN: 17647177     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:2004118018     Document Type: Article

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