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Volumn 33, Issue 19, 2008, Pages 2272-2274

Optical coherence refractometry

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INTERFEROMETRY; REFRACTOMETERS; SURFACE MEASUREMENT;

EID: 55349117781     PISSN: 01469592     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.33.002272     Document Type: Article
Times cited : (31)

References (11)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.