Zero-point fluctuations in naphthalene and their effect on charge transport parameters

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 112, Issue 38, 2008, Pages 9113-9117

  Kwiatkowski, Joe J ^a   Frost, Jarvist M ^a   Kirkpatrick, James ^a   Nelson, Jenny ^a  

^a IMPERIAL COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COUPLINGS; IMAGE SEGMENTATION; PARAMETER ESTIMATION; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS; TEMPERATURE DISTRIBUTION;

CHARGE MOBILITIES; CHARGE TRANSPORTING; ELECTRONIC COUPLINGS; HIGH ENERGIES; HIGH TEMPERATURES; ORGANIC SEMICONDUCTORS; TEMPERATURE DEPENDENCES; VIBRONIC COUPLING; ZERO-POINT FLUCTUATIONS;

NAPHTHALENE;

EID: 53849129935     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp8045406     Document Type: Article

References (25)

1. Forrest, S. R. Nature 2004, 428, 911-918.
2. Kwiatkowski, J. J.; Nelson, J.; Li, H.; Bredas, J. L.; Wenzel, W.; Lennartz, C. PCCP 2008, 10 (14), 1852-1858.
3. Coropceanu, V.; Cornil, J.; da Silva, D. A.; Olivier, Y.; Silbey, R.; Bredas, J. L. Chem. Rev. 2007, 107 (5), 2165-2165.
4. Troisi, A.; Orlandi, G. Phys. Rev. Lett. 2006, 96 (8), xx.
5. Sanchez-Carrera, R. S.; Coropceanu, V.; da Silva Filho, D. A.; Friedlein, R.; Osikowicz, W.; Suess, R. C.; Salaneck, W. R.; Bredas, J. L. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 18904-18911.
6. Lemaur, V.; Da Silva Filho, D.; Coropceanu, V.; Lehmann, M.; Geerts, Y.; Piris, J.; Debije, M.; Van de Craats, A.; Senmilkumar, K.; Siebbeles, L.; Warman, J.; Bredas, J.; Cornil, J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126 (10), 3271-3279.
7. Wang, L. J.; Peng, Q.; Li, Q. K.; Shuai, Z. J. Chem. Phys. 2007, 127, 044506.
8. Troisi, A.; Orlandi, G. J. Phys. Chem. A 2006, 110 (11), 4065-4070.
9. Perdew, J. P.; Chevary, J. A.; Vosko, S. H.; Jackson, K. A.; Perderson, M. R.; Singh, D. J.; Fiolhais, G Phys. Rev. B 1992, 46 (11), 6671-6687.
10. Frisch, M. J.; Tracks, G. W.; Schlegel, H. B.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakai, H.; Kiene, M.; Li, X.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W. Gaussian 03, revision B.05; Gaussian Inc.: Pittsburgh PA, 2003.
11. Valeev, E. F.; Coropceanu, V.; da Silva, D. A.; Salman, S.; Bredas, J. L. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128 (30), 9882-9886.
12. Ponomarev, V. I.; Filipenko, O. S.; Atovmyan, L. O. Kristallografiya 1976, 21 (2), 392-394.
13. Feynmann, R. P. Statistical Mechanics: A Set of Lectures; Perseus: Cambridge, MA, 1998.
14. Pecchia, A.; Gheorghe, M.; Di Carlo, A.; Lugli, P.; Niehaus, T.; Frauenheim, T.; Scholz, R. Phys. Rev. B 2003, 68 (23), xx.
15. Pawley, G. S.; Cyvin, S. J. J. Chem. Phys. 1970, 52, 4073.
16. Kato, T.; Yamabe, T. J. Chem. Phys. 2001, 115 (18), 8592.
17. Nadcaniec, I.; Bokhenkov, E. L.; Dorner, B.; Kalus, J.; MacKenzie, G. A.; Pawley, G. S.; Schmelzer, U.; Sheka, E. F. J. Phys. C: Solid State Phys. 1980, 13 (23), 4265-4283.
18. Allinger, N. L.; Yuh, Y. H.; Lii, J.-H. j. Am. Chem. Soc. 1989, 111 (23), 8551-8566.
19. Lu, J.-H.; Allinger, N. L. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111 (23), 8566-8575.
20. Allinger, N. L.; Li, F.; Yan, L.; Tai, J. C. J. Comput. Chem. 1990, 11 (7), 868-895.
21. Kundrot, C. E.; Ponder, J. W.; Richards, F. M. J. Comput. Chem. 1991, 12 (3), 402-409.
22. Dudek, M. J.; Ponder, J. W. J. Comput. Chem. 1995, 16 (7), 791.
23. Berendsen, H. J. C.; Postma, J. P. M.; van Gunsteren, W. F.; DiNola, A.; Haak, J. R. J. Chem. Phys. 1984, 81, 3684.
24. Bredas, J.; Beljonne, D.; Coropceanu, V.; Cornil, J. Chem. Rev. 2004, 104 (11), 4971-5003.
25. Warta, W.; Stehle, R.; Karl, N. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 1985, 36 (3), 163-170.