Comparison of the growth patterns of Sin and Gen clusters (n = 25-33)

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 112, Issue 26, 2008, Pages 5815-5823

  Zhao, Li Zhen ^a   Lu, Wen Cai ^a,b   Qin, Wei ^a   Wang, C Z ^c   Ho, K M ^c  

^a JILIN UNIVERSITY   (China)

^b QINGDAO UNIVERSITY   (China)

^c IOWA STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GROWTH PATTERNS; LOW-ENERGY STRUCTURES;

SILICON;

EID: 53349151813     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp710937m     Document Type: Article

References (43)

1. Gingerich, K. A.; Schmude, R. W., Jr.; Baba, M. S.; Meloni, G. J. Chem. Phys. 2000, 112, 7443.
2. Martin, T. P.; Schaber, H. J. Chem. Phys. 1985, 83, 855.
3. Phillips, J. C. J. Chem Phys. 1986, 85, 5246.
4. Schulze, W.; Winter, B.; Goldenfeld, I. J. Chem Phys. 1987, 87, 2402.
5. Heath, J. R.; Liu, Y.; O'Brien, S. C.; Zhang, Q. L.; Curl, R. F.: Tittel, F. K.; Smalley, R. E. J. Chem. Phys. 1985, 83, 5520.
6. Yoshida, S.; Fuke, K. J. Chem. Phys. 1999, 111, 3880.
7. Burton, G. R.; Xu, C. S.; Arnold, C. C.; Meumark, D. M. J. Chem. Phys. 1996, 104, 2757.
8. Hunter, J. M.; Fye, J. L.; Jarrold, M. F.; Bower, J. E. Phys. Rev. Lett. 1993, 73, 2063.
9. Alford, J. M.; Laaksonen, R. T.; Smalley, R. E. J. Chem. Phys. 1991, 94, 2618.
10. Shvartsburg, A. A.; Liu, B.; Lu, Z. Y.; Wang, C. Z.; Jarrold, M. F.; Ho, K. M. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 2167.
11. Shvartsburg, A. A.; Hudgins, R. R.; Dugourdb, P.; Jarrold, M. F. Chem. Soc. Rev. 2001, 30, 26.
12. Marsen, B.; Lonfat, M.; Scheier, P.; Sattler, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 6892.
13. Ray, U.; Jarrold, M. F. J. Chem. Phys. 1991, 94, 2631.
14. Bergeron, D. E.; Castleman, A. W., Jr J. Chem. Phys. 2002, 117, 3219.
15. Jarrold, M. F.; Ijiri, Y.; Ray, U. J. Chem. Phys. 1991, 94, 3607.
16. Jarrold, M. F.; Ijiri, Y.; Constant, V. A. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 2994.
17. Schäfer, R.; Schlecht, S.; Woenckhaus, J.; Becker, J. A. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 471.
18. Jarrold, M. F.; Honea, E. C. J. Phys. Chem 1991, 95, 9181.
19. Jarrold, M. F.; Bower, J. E. J. Chem. Phys. 1992, 96, 9180.
20. Hudgins, R. R.; Imai, M.; Jarrold, M. F. J. Chem. Phys. 1999, 111, 7865.
21. Zhang, Q. L.; Liu, Y.; Curl, R. F.; Tittle, F. K.; Smalley, R. E. J. Chem Phys. 1988, 88, 1670.
22. Fuke, K.; Tsukamoto, K.; Misaizu, F.; Sanekata, M. J. Chem. Phys. 1993, 99, 7807.
23. Yoshida, S.; Fuke, K. J. Chem. Phys. 1999, 111, 3880.
24. Mitas, L.; Grossman, J. C.; Stich, I.; Tobik, J. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 1479.
25. Yoo, S.; Zeng, X. C. Angew. Chem., Int. Ed. 2005, 44, 1491.
26. Goedecker, S.; Hellmann. W. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 055501.
27. Sieck, A.; Frauenheim, Th.; Jackson, K. A. Phys. Status Solidi B 2003, 240, 537.
28. Jackson, K. A.; Horoi, M. H. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 013401.
29. Yoo, S.; Zeng, X. C.; Zhu, X. L.; Bai, J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13318.
30. Yoo, S.; Zhao, J. J.; Wang, J. L.; Zeng, X. C. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13845.
31. Bai, J.; Cui, L. F.; Wang, J. L.; et al. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 908.
32. Yoo, S.; Zeng, X. C. J. Chem. Phys. 2006, 124, 054304.
33. Yoo, S.; Shao, N.; Koehler, C.; Fraunhaum, T.; Zeng, X. C. J. Chem. Phys. 2006, 124, 164311.
34. Oña, O.; Bazterra, V. E.; Caputo, M. C.; Facelli, J. C.; Fuentealba, P.; Ferraro, M. B. Phys. Rev. A 2006, 73, 063203.
35. Busulu, S.; Yoo, S.; Zeng, X. C. J. Chem. Phys. 2005, 122, 164305.
36. Wang, J. L.; Wang, G. H.; Zhao, J. J. Phys. Rev. B 2001, 64, 205411.
37. Ma, S. J.; Wang, G. H. THEOCHEM 2006, 767, 75.
38. Liang, F. S.; Li, B. X. Phys. Lett. A 2004, 328, 407.
39. Yoo, S.; Zeng, X. C. J. Chem. Phys. 2006, 124, 184309.
40. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision B; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
41. (a) Delley, B. J. Chem. Phys. 1990, 92, 508.
42. (b) Delley, B. J. Chem. Phys. 1991, 94, 7245.
43. Negishi, Y.; Kawamata, H.; Nakajima, A.; Kaya, K. Chem. Phys. Lett. 1998, 294, 370.