Tuning the transparency of Cu2O with substitutional cation doping

Chemistry of Materials

Volumn 20, Issue 17, 2008, Pages 5522-5531

  Nolan, Michael ^a   Elliott, Simon D ^a  

^a UNIVERSITY COLLEGE CORK   (Ireland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COPPER ALLOYS; COPPER OXIDES;

COPPER;

EID: 52649158191     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm703395k     Document Type: Article

References (55)

1. Kawazoe, H.; Yasukawa, M.; Hyodo, M.; Kurita, M.; Yanagi, H.; Hosono, H. Nature 1997, 389, 939.
2. Banerjee, A. N.; Chattopadhyay, K. K. Prog. Cryst. Growth Charact. 2005, 50, 52.
3. Ingram, B. J.; Gonzalez, G. B.; Kammler, D. R.; Bertoni, M. I.; Mason, T. O. J. Electroceram. 2004, 13, 167.
4. Sheng, S.; Fang, G.; Li, C.; Xu, S.; Zhao, X. Phys. Status Solidi A 2006, 203, 1891.
5. Werner, A.; Hocheimer, H. D. Phys. Rev. B 1982, 25, 5929.
6. Angels Carvajal, M.; Alvarez, S.; Novoa, J. J. Chem.-Eur. J. 2004, 10, 2117.
7. Filippetti, A.; Fiorentini, V. Phys. Rev. B 2005, 72, 035128.
8. Pyykkö, P. Chem. Rev. 1997, 97, 597.
9. Kudo, A.; Yanagi, H.; Hosono, H.; Kawazoe, H. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 222.
10. Buljan, A.; Lunell, M.; Ruiz, E.; Alemany, P. Chem. Mater. 2001, 13, 338.
11. Nolan, M.; Elliott, S. D. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 5350.
12. Laskowski, R.; Blaha, P.; Schwarz, K. Phys. Rev. B 2003, 67, 075102.
13. Ruiz, E.; Alvarez, S.; Alemany, P.; Evarestov, R. A. Phys. Rev. B 1997, 56, 7189.
14. Kikuchi, N.; Tonooka, K. Thin Solid Films 2005, 486, 33.
15. Nolan, M.; Elliott, S. D. Thin Solid Films 2008, 516, 1468.
16. Stoneham, A. M. Theory of Defects in Solids; Oxford University Press: Oxford, U.K., 1972.
17. Pearson, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1963, 85, 3533.
18. Yang, Y.; Jin, S.; Medvedeva, J. E.; Ireland, J. R.; Metz, A. W.; Ni, J.; Hersam, M. C.; Freeman, A. J.; Marks, T. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 8796.
19. (a) Kresse, G.; Furthmüller, J. Comput. Mater. Sci. 1996, 6, 15.
20. (b) Kresse, G.; Furthmüller, J. Phys. Rev. B 1996, 54, 11169.
21. (a) Blöchl, P. E. Phys. Rev. B 1994, 50, 17953.
22. (b) Joubert, D.; Kresse, G. Phys. Rev. B 1999, 59, 1758.
23. Perdew, J. P.; Burke, K.; Ernzerhof, M. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 3865.
24. Murnaghan, F. D. Proc Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1994, 30, 244.
25. Raebiger, H.; Lany, S.; Zunger, A. Phys. Rev. B 2007, 76, 045209.
26. Shannon, R. D.; Prewitt, C. T. Acta Crystallogr., Sect. B 1969, 25, 925.
27. (b) Acta Crys. 1970, B26, 1046.
28. Ghijsen, J.; Tjeng, L. H.; van Elp, J.; Eskes, H.; Westerink, J.; Sawatzky, G. A.; Czyzyk, M. T. Phys. Rev. B 1988, 38, 11322.
29. Nolan, M. Thin Solid Films 2008, doi:10.1016/j.tsf.2008.04. 020.
30. Kroger, F. The Chemistry of Imperfect Crystals; North-Holland: Amsterdam, 1974; p 14.
31. Guerts, J.; Rau, S.; Richter, W.; Schmitte, F. J. Thin Solid Films 1984, 121, 217.
32. Lu, J. G.; Fujita, S.; Kawaharamura, T.; Nishinaka, H.; Kamada, Y.; Oshima, T.; Ye, Z. Z.; Zeng, Y. J.; Zhang, Y. Z.; Zhu, L. P.; He, H. P.; Zao, B. H. J. Appl. Phys. 2007, 101, 3705.
33. Mather, P. G.; Read, J. C.; Buhrman, R. A. Phys. Rev. B 2006, 73, 205412.
34. Seth, U.; Chaney, R. Phys. Rev. B 1975, 12, 5923.
35. Rao, A. S.; amey., R. T. Phys. Status Solidi 1979, 95, 243.
36. Saum, G. A.; Hensley, E. B. Phys. Rev. B 1959, 113, 1019.
37. Dakhrl, A. A.; Henari, F. Z. Cryst. Res. Technol. 2003, 38, 979.
38. Zhou, T.; Schwarz, U.; Hanfland, M.; Liu, Z. X.; Syassen, K.; Cardona, M. Phys. Rev. B 1998, 57, 153.
39. French, R. H.; Jones, D. J.; Loughin, S. J. Am. Ceram. Soc. 1994, 77, 412.
40. Kokubun, Y.; Miura, K.; Endo, F.; Nakgomi, S. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 031912.
41. Prathap, P.; Subbaiah, Y. P. V.; Devika, M.; Ramakrishna Reddy, K. T. Mater. Chem. Phys. 2006, 100, 375.
42. Hattori, T.; Yoshida, T.; Shiraishi, T.; Takahashi, K.; Nohira, H.; Joumori, S.; Nakajima, K.; Suzuki, M.; Kimura, K.; Kasiwagi, I.; Ohshima, C.; Ohmi, S.; Iwai, H. Microeledron. Eng, 2004, 72, 283.
43. Tang, H.; Prasad, K.; Sanjinès, R.; Schmid, P. E.; Lévy, F. J. Appl. Phys. 1994, 75, 2042.
44. Cox, P. A. Transition Metal Oxides: An Introduction to their Electronic Structure and Properties; Clarendon Press: Oxford, U.K., 1995.
45. Shin, S.; Suga, S.; Taniguchi, M.; Fujisawa, M.; Kanzaki, H.; Fujimori, A.; Daimon, H.; Ueda, Y.; Kosuge, K.; Kachi, S. Phys. Rev. B 1990, 47, 4993.
46. Fangxin, L.; Chengyun, W.; Qingde, S.; Tianpeng, Z.; Guiwen, Z. Appl. Opt. 1997, 36, 2796.
47. Pictures of dopant and vacancy configurations studied are available in the Supporting Information that accompanies this manuscript.
48. Nie, X.; Wei, S.-H.; Zhang, S. B. Phys. Rev. B 2002, 65, 075111.
49. West, A. R. Basic Solid State Chemistry; Wiley: Chichester, U.K., 1999.
50. Woodley, S. M.; Battle, P. D.; Gale, J. D.; Catlow, C. R. A. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 2535.
51. Lewis, G. V.; Catlow, C. R. A. J. Phys. C. 1985, 18, 1149.
52. Umbeyashi, T.; Yamaki, T.; Itoh, H.; Asai, K. J. Phys. Chem. Solids 2003, 63, 1909.
53. Yates, H. M.; Nolan, M. G.; Sheel, D. W.; Pemble, M. E. Thin Solid Films 2006, 179, 213.
54. Serpone, N. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 24287.
55. Modreanau, M.; Nolan, M.; Elliott, S. D.; Durand, O.; Servet, B.; Garry, G.; Gehan, H.; Huyberechts, G.; Papadopoulou, E. L.; Androulidaki, M.; Aperathitis, E. Thin Solid Films 2007, 515, 862.