Microscopie X par réflexion totale et diffraction de Kossel àincidence rasante : Premiers résultats

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 6, Issue 4, 1996, Pages

  Erre, D ^a   Jibaoui, H ^a   Cazaux, J ^a  

^a UNIVERSITÉ DE REIMS CHAMPAGNE ARDENNE   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 5244234393     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:1996435     Document Type: Article

References (14)

1. Nevot L. et Croce P., Rev. Phys. Appl. 15 (1980) 761-779
2. Parratt L.G., Phys Rev. 95 (1954) 359-369
3. de Boer D.K.G., Phys. Rev. B, 49 (1994) 5817-5820
4. Holy V., Kubena J., Ohlidal I, Lischha K, Plotz W, Phys. Rev. B, 47 (1993) 15896-15903
5. Belorgey O et Benattar J.J., Phys. Rev. Lett. 66 (1991) 313
6. Marra W.C., Eisenberger P., Cho AV. J. Appl. Phys. 50 (1979) 6927
7. de Boer D.K.G, Leenaers A.J.G, van der Hoogenhof V.W., X ray Spectr.24(1995) 91-102.
8. Erre D. et al, Inst. Phys. Conf. Series 130 (1993) 567-570
9. Cazaux J. et al, Inst. Phys. Conf. Series, Proceeding EMAG 95, à paraître.
10. Cazaux J. et al, J. Phys. IV France, C7, supplément au J. Phys. III, 3 (1993) 2099-2104
11. Cazaux J. et al, J. Phys. IV France, C7, supplément au J. Phys. III, 3 (1993) 2099-2104
12. Elhila H. et al, ce congrès
13. Rondot S. et al, ce congrès
14. Yakowitz H, Adv. Electron Electron. Phys. (1968) 361-431