Colloidal crystals grown on patterned surfaces

Advanced Materials

Volumn 16, Issue 15 SPEC. ISS., 2004, Pages 1360-1364

  Allard, Mathieu ^a   Sargent, Edward H ^a   Lewis, Patrick C ^a   Kumacheva, Eugenia ^a  

^a UNIVERSITY OF TORONTO   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COLLOIDS; CRYSTAL LATTICES; CRYSTAL ORIENTATION; LASER BEAM EFFECTS; MONOLAYERS; PARTICLE SIZE ANALYSIS; PHOTORESISTS; POLYCRYSTALLINE MATERIALS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SUBSTRATES;

COLLOIDAL CRYSTALS; CRYSTAL QUALITY; LASER DIFFRACTION; SURFACE PATTERNING;

CRYSTAL GROWTH;

EID: 4544227734     PISSN: 09359648     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.200400762     Document Type: Article

References (47)

1. a) A. Imhof, D. J. Pine, Nature 1997, 389, 948.
2. b) B. T. Holland, C. F. Blanford, A. Stein, Science 1998, 281, 538.
3. c) A. A. Zakhidov, R. H. Baughman, Z. Iqbal, C. X. Cui, I. Khayrullin, S. O. Dantas, J. Marti, V. G. Ralchenko, Science 1998, 282, 897.
4. d) J. E. G. Wijnhoven, W. L. Vos, Science 1998, 281, 802.
5. a) K. E. Davis, W. B. Russel, W. J. Glantschnig, J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1991, 87, 411.
6. b) B. T. Holland, C. F. Blanford, A. Stein, Science 1998, 281, 538.
7. c) P. Jiang, J. F. Bertone, K. S. Hwang, V. L. Colvin, Chem. Mater. 1999, 11, 2132.
8. d) H. W. Deckman, J. H. Dunsmuir, Appl. Phys. Lett. 1982, 41, 377.
9. e) R. Mayoral, J. Requena, J. S. Moya, C. López, A. Cintas, H. Míguez, F. Meseguer, L. Vásquez, M. Holgado, Á. Blanco, Adv. Mater. 1997, 9, 257.
10. A. L. Rogach, N. A. Kotov, D. S. Koktysh, J. W. Ostrander, G A. Ragoisha, Chem. Mater. 2000, 12, 2721.
11. M. Holdado, F. Garsia-Santamaria, A. Blanco, M. Ibisate, A. Cintas, H. Míguez, C. J. Serna, C. Molpceres, J. Requena, A. Mifsud, F. Meseguer, C. López, Langmuir 1999, 15, 4701.
12. a) O. Vickreva, O. Kalinina, E. Kumaoheva, Adv. Mater. 2000, 12, 110.
13. b) M. Allard, E. H. Sargent, E. Kumacheva, O. Kalinina, J. Opt. Quant. Comp. Electron. 2002, 34, 27
14. X. L. Xu, S. A. Majetich, S. A. Asher, J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 13 864.
15. a) S. O. Lumsdon, E. W. Kaler, O. D. Velev, Langmuir 2004, 20, 2108.
16. b) S. O. Lumsdon, E. W. Kaler, J. P Williams, O. D. Velev, Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 949.
17. Z.-Y. Li, Z.-Q. Zhang, Phys. Rev. B 2000, 62, 1516.
18. a) V. N. Astratov, A. M. Adawi, S. Fricker, M. S. Skolnick, D. M. Whittaker, Phys. Rev. B 2002, 66, 165 215.
19. b) Yu. A. Vlasov, V. N. Astratov, A. V. Baryshev, A. A. Kaplyanskii, O. Z. Karimov, M. F. Limonov, Phys. Rev. E 2000, 61, 5784.
20. a) A. F. Koenderink, M. Megens, G. van Soest, W. L. Vos, A. Lagendjik, Phys. Lett. A 2000, 268, 104.
21. b) J. Huang, N. Eradat, M. E. Raikh, Z. V. Vardeny, A. A. Zakhidov, R. H. Baughman, Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 4815.
22. J. Tien, A. Terfort, G. M. Whitesides, Langmuir 1997, 13, 5349.
23. J. Aizenberg, P. V. Braun, P. Wiltzius, Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 2997.
24. a) K. M. Chen, X. Jiang, L. C. Kimerling, P. T. Hammond, Langmuir 2000, 16, 7825.
25. b) H. Zheng, I. Lee, M. F. Rubner, P. T. Hammond, Adv. Mater. 2002, 14, 569.
26. a) A. van Blaaderen, R. Rue, P. Wiltzius, Nature 1997, 385, 321.
27. b) A. van Blaaderen, J. P. Hoogenboom, D. L. J. Vossen, A. Yethiraj, A. van der Horst, K. Visscher, M. Dogterom, Faraday Discuss. 2003, 123, 107.
28. a) K. Lin, J. C. Crocker, V. Prasad, A. Schofield, D. A. Weitz, T. C. Lubensky, A. G. Yodh, Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 1770.
29. b) Y.-H. Ye, S. Badilescu, V.-V. Truong, P. Rochon, A. Natansohn, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 872.
30. c) H. M. Harreis, M. Schmidt, H. Löwen, Phys. Rev. E 2002, 65, 041 602.
31. d) P. V. Braun, R. W. Zehner, C. A. White, M. K. Weldon, C. Kolc, S. S. Patel, P. Wiltzius, Adv. Mater. 2001, 13, 721.
32. e) J. P. Hoogenboom, A. Yethiraj, A. K. van Langen-Suurling, J. Romijn, A. van Blaaderen, Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 256 104.
33. a) Y. Yin, Y. Lu, B. Gates, Y. Xia, J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 8718.
34. b) Y. Xia, Y. Yin, Y. Lu, J. McLellan, Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 970.
35. D. K. Yi, E.- M. Seo, D.-Y. Kim, Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 225.
36. G. A. Ozin, S. M. Yang, Adv. Funct. Mater. 2001, 11, 95.
37. a) E. Kumacheva, R. K. Golding, M. Allard, E. H. Sargent, Adv. Mater. 2002, 14, 221.
38. b) R. K. Golding, P. C. Lewis, M. Allard, E. H. Sargent, E. Kumacheva, Langmuir 2004, 20, 1414.
39. a) E. Kim, Y. Xia, G. M. Whitesides, Adv. Mater. 1996, 8, 245.
40. b) B. Gates, D. Qin, Y. Xia, Adv. Mater. 1999, 11, 466.
41. c) P. Yang, A. H. Rivzi, B. Messer, B. F. Chmelka, G. M. Whitesides, G. D. Stucky, Adv. Mater. 2001, 13, 427.
42. a) M. Trau, D. A. Saville, I. A. Aksay, Science 1996, 272, 706.
43. b) M. Trau, D. A. Saville, I. A. Aksay, Langmuir 1997, 13, 6375.
44. a) R. M. Amos, T. J. Shepherd, J. G. Rarity, P. Tapster, Electron. Lett. 2000, 36, 1411.
45. b) J. Zhu, M. Li, R. Rogers, W. Meyer, R. H. Ottewill, STS-73 Space Shuttle Crew, W. B. Russel, P. M. Chaikin, Nature 1997, 387, 883.
46. Note that diffraction patterns can only be observed if the wavelength is such that λ < d.
47. O. Kalinina, E. Kumacheva, Macromolecules 1999, 32, 4122.