A non invasive method to detect stratigraphy, thicknesses and pigment concentration of pictorial multilayers based on EDXRF and vis-RS: In situ applications

Applied Physics A: Materials Science and Processing

Volumn 92, Issue 1, 2008, Pages 203-210

  Bonizzoni, L ^a   Caglio, S ^b   Galli, A ^c   Poldi, G ^b,d  

^a UNIVERSITY OF MILAN   (Italy)

^b Open Care   (Italy)

^c INFM   (Italy)

^d UNIVERSITY OF VERONA   (Italy)

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CONCENTRATION (PROCESS); ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY; PAINTING; PIGMENTS; STRATIGRAPHY; THICKNESS CONTROL;

PICTORIAL MULTILAYERS; PIGMENT CONCENTRATION;

MULTILAYERS;

EID: 44749089959     PISSN: 09478396     EISSN: 14320630     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s00339-008-4482-6     Document Type: Article

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