Epitaxial growth of MgB2(0001) thin films on magnesium single-crystals

Applied Physics Letters

Volumn 85, Issue 6, 2004, Pages 976-978

  Cepek, C ^a   Macovez, R ^a   Sancrotti, M ^a,c   Petaccia, L ^b   Larciprete, R ^b,d   Lizzit, S ^b   Goldoni, A ^a,b  

^a LABORATORIO TASC   (Italy)

^b SINCROTRONE TRIESTE   (Italy)

^c UNIVERSITÀ CATTOLICA DEL SACRO CUORE   (Italy)

^d CNR   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BAND STRUCTURE; BINDING ENERGY; ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY; EPITAXIAL GROWTH; FILM GROWTH; FLUXES; LIGHT POLARIZATION; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; PHASE DIAGRAMS; PHOTOEMISSION; SINGLE CRYSTALS; STOICHIOMETRY; THIN FILMS; ULTRAHIGH VACUUM; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

ANGLE-RESOLVED PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY (ARPES); ELECTRON-BEAM GUNS; PHOTON ENERGY; X-RAY ABSORPTION;

MAGNESIUM COMPOUNDS;

EID: 4344624639     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1777413     Document Type: Article

References (26)

1. D. K. Brock, E. K. Track, and J. M. Rowell, IEEE Spectrum 37, 40 (2000).
2. S. Lee, T. Masui, H. Mori, Yu. Eltsev, A. Yamamoto, and S. Tajima, Supercond. Sci. Technol. 16, 213 (2003), and references therein.
3. W. N. Kang, H.-J Kim, E.-M. Choi, C. U. Jung, and S. Lee, Science 292, 1521 (2001); S. H. Moon, J. H. Yun, H. N. Lee, J. I. Kye, H. G. Kim, W. Chung, and B. Oh, Appl. Phys. Lett. 79, 2046 (2001).
4. W. N. Kang, H.-J Kim, E.-M. Choi, C. U. Jung, and S. Lee, Science 292, 1521 (2001); S. H. Moon, J. H. Yun, H. N. Lee, J. I. Kye, H. G. Kim, W. Chung, and B. Oh, Appl. Phys. Lett. 79, 2046 (2001).
5. C. B. Eom, M. K. Lee, J. H. Choi, L. J. Belenky, X. Song, L. D. Cooley, M. T. Naus, S. Patnaik, J. Jiang, M. Rikel, A. Polyanskii, A. Gurevich, X. Y. Cai, S. D. Bu, S. E. Babcock, E. E. Hellstrom, D. C. Larbalestier, N. Rogado, K. A. Regan, M. A. Hayward, T. He, J. S. Slusky, K. Inumaru, M. K. Haas, and R. J. Cava, Nature (London) 411, 558 (2001).
6. A. Saito, A. Kawakami, H. Shimakage, and Z. Wang, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 41, L127 (2002).
7. D. H.A. Blank, H. Hilgenkamp, A. Brinkman, D. Mijatovic, G. Rijnders, and H. Rogalla, Appl. Phys. Lett. 79, 394 (2001); J. Kim, R. K. Singh, N. Newman, and J. M. Rowell, IEEE Trans. Appl. Supercond. 13, 3238 (2003).
8. D. H.A. Blank, H. Hilgenkamp, A. Brinkman, D. Mijatovic, G. Rijnders, and H. Rogalla, Appl. Phys. Lett. 79, 394 (2001); J. Kim, R. K. Singh, N. Newman, and J. M. Rowell, IEEE Trans. Appl. Supercond. 13, 3238 (2003).
9. K. Ueda and M. Naito, Appl. Phys. Lett. 79, 2046 (2001); K. Ueda, H. Yamamoto, and M. Naito, Physica C 378-381, 225 (2002); K. Ueda and M. Naito, J. Appl. Phys. 93, 2113 (2003).
10. K. Ueda and M. Naito, Appl. Phys. Lett. 79, 2046 (2001); K. Ueda, H. Yamamoto, and M. Naito, Physica C 378-381, 225 (2002); K. Ueda and M. Naito, J. Appl. Phys. 93, 2113 (2003).
11. K. Ueda and M. Naito, Appl. Phys. Lett. 79, 2046 (2001); K. Ueda, H. Yamamoto, and M. Naito, Physica C 378-381, 225 (2002); K. Ueda and M. Naito, J. Appl. Phys. 93, 2113 (2003).
12. W. Jo, J.-U. Huh, T. Ohnishi, A. F. Marshall, M. R. Beasley, and R. H. Hammond, Appl. Phys. Lett. 80, 3563 (2002).
13. S. Yata, G. Shimizu, Y. Yamada, S. Kubo, and A. Matsushita, Physica C 388-389, 155 (2003).
14. X. H. Zeng, A. V. Pogrebnyakov, A. Kotcharov, J. E. Jones, X. X. Xi, E. M. Lysczek, J. M; Redwing, S. Xu, Q. Li, J. Lettieri, D. G. Schlom, W. Tian, X. Pan, and Z.-K. Liu, Nat. Mater. 1, 35 (2002); X. H. Zeng, V. Pogrebnyakov, M. H. Zhu, J. E. Jones, X. X. Xi, S. Y. Xu, E. Wertz, Qi Li, J. M. Redwing, J. Lettieri, V. Vaithyanathan, D. G. Schlom, Z.-K. Liu, O. Trithaveesak, and J. Schubert, Appl. Phys. Lett. 82, 2097 (2003).
15. X. H. Zeng, A. V. Pogrebnyakov, A. Kotcharov, J. E. Jones, X. X. Xi, E. M. Lysczek, J. M; Redwing, S. Xu, Q. Li, J. Lettieri, D. G. Schlom, W. Tian, X. Pan, and Z.-K. Liu, Nat. Mater. 1, 35 (2002); X. H. Zeng, V. Pogrebnyakov, M. H. Zhu, J. E. Jones, X. X. Xi, S. Y. Xu, E. Wertz, Qi Li, J. M. Redwing, J. Lettieri, V. Vaithyanathan, D. G. Schlom, Z.-K. Liu, O. Trithaveesak, and J. Schubert, Appl. Phys. Lett. 82, 2097 (2003).
16. A. J.M. van Erven, T. H. Kim, M. Muenzenberg, and J. S. Moodera, Appl. Phys. Lett. 81, 4982 (2002).
17. H. Yamazaki, Y. Hikita, H. Hori, and H. Takagi, Appl. Phys. Lett. 83, 3740 (2003).
18. P. Kús, A. Plecenik, L. Satrapinsky, Y. Xu, and R. Sobolewski, Appl. Phys. Lett. 81, 2199 (2002).
19. S. F. Wang, Y. L. Zhou, Y. B. Zhu, Q. Zhang, S. Y. Dai, K. Xie, Z. H. Chen, H. B. Lu, and G. Z. Yang, Physica C 390, 1 (2003); S. F. Wang, Y.-L. Zhou, Y.-B. Zhu, Z. Liu, Q. Zhang, Z.-H. Chen, H.-B. Lu, S.-Y. Dai, and G.-Z. Yang, Thin Solid Films 443, 120 (2003).
20. S. F. Wang, Y. L. Zhou, Y. B. Zhu, Q. Zhang, S. Y. Dai, K. Xie, Z. H. Chen, H. B. Lu, and G. Z. Yang, Physica C 390, 1 (2003); S. F. Wang, Y.-L. Zhou, Y.-B. Zhu, Z. Liu, Q. Zhang, Z.-H. Chen, H.-B. Lu, S.-Y. Dai, and G.-Z. Yang, Thin Solid Films 443, 120 (2003).
21. Z.-K. Liu, D. G. Schlom, Q. Li, and X. X. Xi, Appl. Phys. Lett. 78, 3678 (2001).
22. S. Souma, Y. Machida, T. Sato, T. Takahashi, H. Matsui, S.-C. Wang, H. Ding, A. Kaminski, J. C. Campuzano, S. Sasaki, and K. Kadowaki, Nature (London) 423, 65 (2003).
23. Y. Zhu, A. R. Moodenbaugh, G. Schneider, J. W. Davenport, T. Vogt, Q. Li, G. Gu, D. A. Fischer, and J. Tafto, Phys. Rev. Lett. 88, 247002 (2002).
24. J. A. Leiro, K. Kokko, and V. Kulmala, J. Alloys Compd. 362, 139 (2004).
25. Z. Li, J. Jang, J. G. Hou, and Q. Zhou, Phys. Rev. B 65, 100507 (R) (2002).
26. I. I. Mazin and V. P. Antropov, Physica C 385, 49 (2003).