Direct imaging of current-induced domain wall motion in CoFeB structures

Journal of Applied Physics

Volumn 103, Issue 7, 2008, Pages

  Heyne, L ^a   Klaui M ^a   Backes, D ^a,b   Mohrke P ^a   Moore, T A ^a   Kimling, J G ^a   Boulle, O ^a   Rudiger U ^a   Heyderman, L J ^b   Rodríguez, A Fraile ^b   Nolting, F ^b   Kirsch, K ^c   Mattheis, R ^c  

^a UNIVERSITY OF KONSTANZ   (Germany)

^b PAUL SCHERRER INSTITUTE   (Switzerland)

^c LEIBNIZ INSTITUTE OF PHOTONIC TECHNOLOGY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COBALT COMPOUNDS; CRITICAL CURRENTS; IMAGING SYSTEMS; SATURATION MAGNETIZATION; THERMAL EFFECTS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

SPIN TRANSFER TORQUE EFFECT; WALL TRANSFORMATIONS;

DOMAIN WALLS;

EID: 42149158321     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2836326     Document Type: Conference Paper

References (24)

1. S. S. P. Parkin, U.S. Patent No. 6,834,005 (September 11, 2005).
2. D. A. Allwood, G. Xiong, M. D. Cooke, C. C. Faulkner, D. Atkinson, N. Vernier, and R. P. Cowburn, Science 296, 5575 (2002).
3. L. Berger, Phys. Rev. B 54, 9353 (1996).
4. J. C. Slonczewski, J. Magn. Magn. Mater. 159, L1 (1996).
5. E. Martinez, L. Lopez-Diaz, O. Alejos, L. Torres, and C. Tristan, Phys. Rev. Lett. 98, 267202 (2007).
6. A. Thiaville, Y. Nakatani, J. Miltat, and Y. Suzuki, Europhys. Lett. 69, 990 (2005).
7. A. Yamaguchi, T. Ono, S. Nasu, K. Miyake, K. Mibu, and T. Shinjo, Phys. Rev. Lett. 92, 077205 (2004).
8. J. Grollier, P. Boulenc, V. Cros, A. Hamzic, A. Vauŕs, A. Fert, and A. Faini, Appl. Phys. Lett. 83, 509 (2003).
9. N. Vernier, D. A. Allwood, D. Atkinson, M. D. Cooke, and R. P. Cowburn, Europhys. Lett. 65, 526 (2004).
10. M. Kläui, C. A. F. Vaz, J. A. C. Bland, W. Wernsdorfer, G. Faini, E. Cambril, L. J. Heyderman, F. Nolting, and U. Rüdiger, Phys. Rev. Lett. 94, 106601 (2005).
11. M. Kläui, M. Laufenberg, L. Heyne, U. Rüdiger, C. A. F. Vaz, J. A. C. Bland, L. C. Heyderman, S. Cherifi, A. Locatelli, T. O. Mentes, and L. Aballe, Appl. Phys. Lett. 88, 232507 (2006).
12. A. Yamaguchi, T. Ono, S. Nasu, K. Miyake, K. Mibu, and T. Shinjo, Appl. Phys. Lett. 86, 012511 (2005).
13. F. Junginger, M. Kläui, M. Laufenberg, L. Heyne, D. Backes, U. Rüdiger, C. A. F. Vaz, and J. A. C. Bland, Appl. Phys. Lett. 90, 132506 (2007).
14. G. Tatara and H. Kohno, Phys. Rev. Lett. 92, 086601 (2004).
15. S. Laribi, V. Cros, M. Munoz, J. Grollier, A. Hamzic, C. Deranlot, A. Fert, E. Martinez, L. Lopez-Diaz, L. Vila, G. Faini, S. Zoll, and R. Fournel, Appl. Phys. Lett. 90, 232505 (2007).
16. L. Heyne and M. Kläui (unpublished).
17. W. Y. Lee, H. T. Leung, W. Zhang, Y. B. Xu, A. Hirohata, C. C. Yao, B. C. Choi, D. G. Hasko, and J. A. C. Bland, IEEE Trans. Magn. 35, 3883 (1999).
18. D. Backes, L. J. Heyderman, C. David, R. Schaublin, M. Kläui, H. Ehrke, U. Rüdiger, C. A. F. Vaz, J. A. C. Bland, T. Kasama, and R. E. Dunin-Borkowski, Microelectron. Eng. 83, 1726 (2006).
19. S. U. Jen, Y. D. Yao, Y. T. Chen, J. M. Wu, C. C. Lee, T. L. Tsai, and Y. C. Chang, J. Appl. Phys. 99, 053701 (2006).
20. J. Stöhr, Y. Wu, B. D. Hermsmeier, M. G. Samant, G. R. Harp, S. Koranda, D. Dunham, and B. P. Tonner, Science 259, 658 (1993).
21. M. Laufenberg, D. Backes, W. Bührer, D. Bedau, M. Kläui, U. Rüdiger, C. A. F. Vaz, J. A. C. Bland, L. J. Heyderman, F. Nolting, S. Cherifi, A. Locatelli, R. Belkhou, S. Heun, and E. Bauer, Appl. Phys. Lett. 88, 052507 (2006).
22. K. Yagami, A. A. Tulapurkar, A. Fukushima, and Y. Suzuki, Appl. Phys. Lett. 85, 5634 (2004).
23. D. Backes, C. Schieback, M. Kläui, F. Junginger, H. Ehrke, P. Nielaba, U. Rüdiger, L. J. Heyderman, C. S. Chen, T. Kasama, R. E. Dunin-Borkowski, C. A. F. Vaz, and J. A. C. Bland, Appl. Phys. Lett. 91, 112502 (2007).
24. K. Nagasaka, L. Varga, Y. Shimizu, S. Eguchi, and A. Tanaka, J. Appl. Phys. 87, 6433 (2000).