메뉴 건너뛰기




Volumn 155, Issue 4, 2008, Pages

Combination of AFM, SKPFM, and SIMS to study the corrosion behavior of S-phase particles in AA2024-T351

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; COPPER; DISSOLUTION; ELEMENTARY PARTICLES; PASSIVATION; SOLUTIONS;

EID: 40549132606     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.2833315     Document Type: Article
Times cited : (119)

References (20)
  • 1
    • 0031105705 scopus 로고    scopus 로고
    • CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(97)86099-4.
    • C. Blanc, B. Lavelle, and G. Mankowski, Corros. Sci. CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(97)86099-4, 39, 495 (1997).
    • (1997) Corros. Sci. , vol.39 , pp. 495
    • Blanc, C.1    Lavelle, B.2    Mankowski, G.3
  • 2
    • 0032123781 scopus 로고    scopus 로고
    • JESOAN 0013-4651 10.1149/1.1838633.
    • P. Schmutz and G. S. Frankel, J. Electrochem. Soc. JESOAN 0013-4651 10.1149/1.1838633, 145, 2285 (1998).
    • (1998) J. Electrochem. Soc. , vol.145 , pp. 2285
    • Schmutz, P.1    Frankel, G.S.2
  • 4
    • 0033428306 scopus 로고    scopus 로고
    • CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(99)00012-8.
    • Z. Szklarska-Smialowska, Corros. Sci. CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(99)00012-8, 41, 1743 (1999).
    • (1999) Corros. Sci. , vol.41 , pp. 1743
    • Szklarska-Smialowska, Z.1
  • 9
    • 0030208729 scopus 로고    scopus 로고
    • EFMEAH 0013-7944 10.1016/0013-7944(93)E0027-Z.
    • M. R. Bayoumi, Eng. Fract. Mech. EFMEAH 0013-7944 10.1016/0013-7944(93) E0027-Z, 54, 879 (1996).
    • (1996) Eng. Fract. Mech. , vol.54 , pp. 879
    • Bayoumi, M.R.1
  • 10
    • 33751349026 scopus 로고    scopus 로고
    • CRRSAA 0010-938X 10.1016/j.corsci.2006.05.013.
    • X. Liu, G. S. Frankel, B. Zoofan, and S. Rokhlin, Corros. Sci. CRRSAA 0010-938X 10.1016/j.corsci.2006.05.013, 49, 139 (2007).
    • (2007) Corros. Sci. , vol.49 , pp. 139
    • Liu, X.1    Frankel, G.S.2    Zoofan, B.3    Rokhlin, S.4
  • 14
    • 33749634273 scopus 로고    scopus 로고
    • JESOAN 0013-4651 10.1149/1.2349356.
    • T. H. Muster and A. E. Hughes, J. Electrochem. Soc. JESOAN 0013-4651 10.1149/1.2349356, 153, B474 (2006).
    • (2006) J. Electrochem. Soc. , vol.153 , pp. 474
    • Muster, T.H.1    Hughes, A.E.2
  • 15
    • 35148878235 scopus 로고    scopus 로고
    • ELCAAV 0013-4686 10.1016/j.electacta.2007.03.016.
    • M. Rohwerder and F. Turcu, Electrochim. Acta ELCAAV 0013-4686 10.1016/j.electacta.2007.03.016, 53, 290 (2007).
    • (2007) Electrochim. Acta , vol.53 , pp. 290
    • Rohwerder, M.1    Turcu, F.2
  • 16
    • 13944278768 scopus 로고    scopus 로고
    • CRRSAA 0010-938X 10.1016/j.corsci.2004.07.029.
    • B. S. Tanem, G. Svenningsen, and J. Mardalen, Corros. Sci. CRRSAA 0010-938X 10.1016/j.corsci.2004.07.029, 47, 1506 (2005).
    • (2005) Corros. Sci. , vol.47 , pp. 1506
    • Tanem, B.S.1    Svenningsen, G.2    Mardalen, J.3
  • 17
    • 2442508691 scopus 로고    scopus 로고
    • ELCAAV 0013-4686 10.1016/j.electacta.2004.01.045.
    • J. H. W. de Wit, Electrochim. Acta ELCAAV 0013-4686 10.1016/j.electacta. 2004.01.045, 49, 2841 (2004).
    • (2004) Electrochim. Acta , vol.49 , pp. 2841
    • De Wit, J.H.W.1
  • 18
    • 0032123764 scopus 로고    scopus 로고
    • JESOAN 0013-4651 10.1149/1.1838634.
    • P. Schmutz and G. S. Frankel, J. Electrochem. Soc. JESOAN 0013-4651 10.1149/1.1838634, 145, 2295 (1998).
    • (1998) J. Electrochem. Soc. , vol.145 , pp. 2295
    • Schmutz, P.1    Frankel, G.S.2
  • 19
    • 0031999076 scopus 로고    scopus 로고
    • CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(97)00147-9.
    • C. Blanc and G. Mankowski, Corros. Sci. CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(97)00147-9, 40, 411 (1998).
    • (1998) Corros. Sci. , vol.40 , pp. 411
    • Blanc, C.1    Mankowski, G.2


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.