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Volumn 17, Issue 3, 1999, Pages 961-969

Epitaxial growth and characterization of Ce1-xZrxO2 thin films

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EID: 3943104809     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.581671     Document Type: Article
Times cited : (26)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.