-
1
-
-
27744567428
-
-
For a review, see, IJDTAL 1551-319X 10.1109/JDT.2005.852506.
-
For a review, see X. Zhu, Z. Ge, T. X. Wu, and S. T. Wu, J. Disp. Technol. IJDTAL 1551-319X 10.1109/JDT.2005.852506 1, 15 (2005).
-
(2005)
J. Disp. Technol.
, vol.1
, pp. 15
-
-
Zhu, X.1
Ge, Z.2
Wu, T.X.3
Wu, S.T.4
-
2
-
-
0001595275
-
-
DTPSDS 0003-966X 10.1889/1.1833672.
-
A. Takeda, S. Kataoka, T. Sasaki, H. Chida, H. Tsuda, K. Ohmuro, Y. Koike, T. Sasabayashi, and K. Okamoto, SID Int. Symp. Digest Tech. Papers DTPSDS 0003-966X 10.1889/1.1833672 29, 1077 (1998).
-
(1998)
SID Int. Symp. Digest Tech. Papers
, vol.29
, pp. 1077
-
-
Takeda, A.1
Kataoka, S.2
Sasaki, T.3
Chida, H.4
Tsuda, H.5
Ohmuro, K.6
Koike, Y.7
Sasabayashi, T.8
Okamoto, K.9
-
3
-
-
0005572197
-
-
DTPSDS 0003-966X 10.1889/1.1832932.
-
J. O. Kwag, K. C. Shin, J. S. Kim, S. G. Kim, and S. S. Kim, SID Int. Symp. Digest Tech. Papers DTPSDS 0003-966X 10.1889/1.1832932 31, 256 (2000).
-
(2000)
SID Int. Symp. Digest Tech. Papers
, vol.31
, pp. 256
-
-
Kwag, J.O.1
Shin, K.C.2
Kim, J.S.3
Kim, S.G.4
Kim, S.S.5
-
5
-
-
0030103973
-
-
APPLAB 0003-6951 10.1063/1.116252.
-
S. T. Wu and C. S. Wu, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.116252 68, 1455 (1996).
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.68
, pp. 1455
-
-
Wu, S.T.1
Wu, C.S.2
-
6
-
-
24144446128
-
-
APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1991981.
-
J. H. Song, Y. J. Lim, M. H. Lee, S. T. Shin, and S. H. Lee, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1991981 87, 011108 (2005).
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 011108
-
-
Song, J.H.1
Lim, Y.J.2
Lee, M.H.3
Shin, S.T.4
Lee, S.H.5
-
7
-
-
31544450006
-
-
JAPNDE 0021-4922 10.1143/JJAP.44.7524.
-
J. B. Park, H. Y. Kim, Y. H. Jeong, S. Y. Kim, and Y. J. Lim, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 JAPNDE 0021-4922 10.1143/JJAP.44.7524 44, 7524 (2005).
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.44
, pp. 7524
-
-
Park, J.B.1
Kim, H.Y.2
Jeong, Y.H.3
Kim, S.Y.4
Lim, Y.J.5
-
9
-
-
29244437828
-
-
OPEXFF 1094-4087 10.1364/OPEX.13.010777.
-
Q. Hong, T. X. Wu, R. Lu, and S. T. Wu, Opt. Express OPEXFF 1094-4087 10.1364/OPEX.13.010777 13, 10777 (2005).
-
(2005)
Opt. Express
, vol.13
, pp. 10777
-
-
Hong, Q.1
Wu, T.X.2
Lu, R.3
Wu, S.T.4
-
10
-
-
33744771954
-
-
IJDTAL 1551-319X 10.1109/JDT.2006.874509.
-
Z. Ge, X. Zhu, and S. T. Wu, J. Disp. Technol. IJDTAL 1551-319X 10.1109/JDT.2006.874509 2, 102 (2006).
-
(2006)
J. Disp. Technol.
, vol.2
, pp. 102
-
-
Ge, Z.1
Zhu, X.2
Wu, S.T.3
-
11
-
-
33749480858
-
-
APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2358813.
-
J. Wang, L. Chen, X. Liu, P. Sciortino, F. Liu, F. Walters, and X. Deng, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2358813 89, 141105 (2006).
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 141105
-
-
Wang, J.1
Chen, L.2
Liu, X.3
Sciortino, P.4
Liu, F.5
Walters, F.6
Deng, X.7
-
12
-
-
34547955711
-
-
DTPSDS 0003-966X 10.1889/1.2785516.
-
J. H. Oh, D. H. Kang, W. H. Park, H. J. Kim, S. M. Hong, K. H. Hur, J. Jang, S. J. Lee, M. J. Kim, S. K. Kim, K. H. Park, E. Gardner, J. Hansen, M. Yost, and D. Hansen, SID Int. Symp. Digest Tech. Papers DTPSDS 0003-966X 10.1889/1.2785516 38, 1164 (2007).
-
(2007)
SID Int. Symp. Digest Tech. Papers
, vol.38
, pp. 1164
-
-
Oh, J.H.1
Kang, D.H.2
Park, W.H.3
Kim, H.J.4
Hong, S.M.5
Hur, K.H.6
Jang, J.7
Lee, S.J.8
Kim, M.J.9
Kim, S.K.10
Park, K.H.11
Gardner, E.12
Hansen, J.13
Yost, M.14
Hansen, D.15
-
13
-
-
0038680512
-
-
JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1559937.
-
X. J. Yu and H. S. Kwok, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1559937 93, 4407 (2003).
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.93
, pp. 4407
-
-
Yu, X.J.1
Kwok, H.S.2
-
15
-
-
19944404257
-
-
JOAOD6 0740-3232 10.1364/JOSAA.22.000966.
-
Z. Ge, X. Zhu, T. X. Wu, and S. T. Wu, J. Opt. Soc. Am. A JOAOD6 0740-3232 10.1364/JOSAA.22.000966 22, 966 (2005).
-
(2005)
J. Opt. Soc. Am. A
, vol.22
, pp. 966
-
-
Ge, Z.1
Zhu, X.2
Wu, T.X.3
Wu, S.T.4
|