메뉴 건너뛰기




Volumn 103, Issue 2, 2008, Pages

Microstructure and magnetic properties of FePt-SiO2 granular films with Ag addition

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GRAIN SIZE AND SHAPE; IRON COMPOUNDS; MAGNETIC PROPERTIES; SIZE DISTRIBUTION; SPUTTERING;

EID: 38849186646     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2828032     Document Type: Article
Times cited : (58)

References (34)
  • 1
    • 38849140522 scopus 로고    scopus 로고
    • J. I. M. Meeting, Yokohama, Japan, March.
    • O. Kitakami, J. I. M. Meeting, Yokohama, Japan, March 2005.
    • (2005)
    • Kitakami, O.1
  • 2
    • 0030676990 scopus 로고    scopus 로고
    • IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.560142.
    • S. H. Charap and P. L. Lu, IEEE Trans. Magn. IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.560142 33, 978 (1997).
    • (1997) IEEE Trans. Magn. , vol.33 , pp. 978
    • Charap, S.H.1    Lu, P.L.2
  • 4
    • 0033906169 scopus 로고    scopus 로고
    • IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.824422.
    • R. Wood, IEEE Trans. Magn. IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.824422 36, 36 (2000).
    • (2000) IEEE Trans. Magn. , vol.36 , pp. 36
    • Wood, R.1
  • 10
    • 0029403411 scopus 로고
    • IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.490144.
    • C. P. Luo and D. J. Sellmyer, IEEE Trans. Magn. IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.490144 31, 2764 (1995).
    • (1995) IEEE Trans. Magn. , vol.31 , pp. 2764
    • Luo, C.P.1    Sellmyer, D.J.2
  • 17
    • 33646189067 scopus 로고    scopus 로고
    • APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2191422.
    • C. C. Chiang, C. H. Lai, and Y. C. Wu, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2191422 88, 152508 (2006).
    • (2006) Appl. Phys. Lett. , vol.88 , pp. 152508
    • Chiang, C.C.1    Lai, C.H.2    Wu, Y.C.3
  • 19
    • 79957929666 scopus 로고    scopus 로고
    • APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1476706.
    • Y. Xu, J. S. Chen, and J. P. Wang, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1476706 80, 3325 (2002).
    • (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.80 , pp. 3325
    • Xu, Y.1    Chen, J.S.2    Wang, J.P.3
  • 20
    • 0034677878 scopus 로고    scopus 로고
    • SCIEAS 0036-8075 10.1126/science.287.5460.1989.
    • S. Sun, C. B. Murray, D. Weller, L. Folks, and A. Moser, Science SCIEAS 0036-8075 10.1126/science.287.5460.1989 287, 1989 (2000).
    • (2000) Science , vol.287 , pp. 1989
    • Sun, S.1    Murray, C.B.2    Weller, D.3    Folks, L.4    Moser, A.5
  • 21
    • 33646687264 scopus 로고    scopus 로고
    • APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2202130.
    • J. M. Qiu and J. P. Wang, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.2202130 88, 192505 (2006).
    • (2006) Appl. Phys. Lett. , vol.88 , pp. 192505
    • Qiu, J.M.1    Wang, J.P.2
  • 22
    • 33644806403 scopus 로고    scopus 로고
    • MTARCE 1345-9678 10.2320/matertrans.47.43.
    • S. Okamoto, O. Kitakami, and Y. Shimada, Mater. Trans. MTARCE 1345-9678 10.2320/matertrans.47.43 47, 43 (2006).
    • (2006) Mater. Trans. , vol.47 , pp. 43
    • Okamoto, S.1    Kitakami, O.2    Shimada, Y.3
  • 23
    • 0035386732 scopus 로고    scopus 로고
    • IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.950819.
    • T. Suzuki and K. Ohchi, IEEE Trans. Magn. IEMGAQ 0018-9464 10.1109/20.950819 37, 1283 (2001).
    • (2001) IEEE Trans. Magn. , vol.37 , pp. 1283
    • Suzuki, T.1    Ohchi, K.2
  • 24
    • 10844224404 scopus 로고    scopus 로고
    • THSFAP 0040-6090 10.1016/j.tsf.2004.08.079.
    • Y. F. Ding, J. S. Chen, and E. Liu, Thin Solid Films THSFAP 0040-6090 10.1016/j.tsf.2004.08.079 474, 141 (2005).
    • (2005) Thin Solid Films , vol.474 , pp. 141
    • Ding, Y.F.1    Chen, J.S.2    Liu, E.3
  • 25
  • 29
    • 0036646616 scopus 로고    scopus 로고
    • IEMGAQ 0018-9464 10.1109/TMAG.2002.1017761.
    • R. W. Wood, J. Miles, and T. Olson, IEEE Trans. Magn. IEMGAQ 0018-9464 10.1109/TMAG.2002.1017761 38, 1711 (2002).
    • (2002) IEEE Trans. Magn. , vol.38 , pp. 1711
    • Wood, R.W.1    Miles, J.2    Olson, T.3
  • 34
    • 33748913192 scopus 로고    scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.2335600.
    • C. Y. You, Y. K. Takahashi, and K. Hono, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.2335600 100, 056105 (2006).
    • (2006) J. Appl. Phys. , vol.100 , pp. 056105
    • You, C.Y.1    Takahashi, Y.K.2    Hono, K.3


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.