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Volumn 92, Issue 3, 2008, Pages

Design and fabrication of a line-defect bend sandwiched with air trenches in a photonic crystal platform

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BANDWIDTH; COMPUTER SIMULATION; INSERTION LOSSES; SILICON ON INSULATOR TECHNOLOGY;

EID: 38549106469     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2838337     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.