Inspection of specular surfaces with inverse patterns;Automatische Inspektion spiegelnder Oberflächen mittels inverser Muster

Technisches Messen

Volumn 74, Issue 4, 2007, Pages 217-223

  Werling, Stefan ^a   Beyerer, Jürgen ^b  

^a UNIVERSITY OF KARLSRUHE   (Germany)

^b FRAUNHOFER IOSB   (Germany)

Author keywords

Deflectometry; Image processing; Inverse patterns; Shape from specular reflection; Specular free forms

Indexed keywords

CONTROLLED ENVIRONMENT; DEFLECTOMETRY; FREEFORMS; INVERSE PATTERNS; MIRROR SURFACES; SHAPE FROM SPECULAR REFLECTIONS; SPECULAR SURFACE; SURFACE EXAMINATION;

IMAGE PROCESSING;

MIRRORS;

EID: 37149011715     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1524/teme.2007.74.4.217     Document Type: Article

References (14)

1. J. Balzer, S. Werling, J. Beyerer: Regulariza- tion of the deflectometry problem using shading data, SPIE Optics East Boston 2006: Two- and Three-Dimensional Methods for Inspection and Metrology IV, Proceedings of SPIE 6382, 2006.
2. D. Pérard: Automated visual inspection of specular surfaces with structured-lighting reflection techniques, Düsseldorf: VDI Verlag, 2001.
3. S. Kammel: Deflektometrische Untersuchung spiegelnd reflektierender Freiformflächen, Karlsruhe: Universitätsverlag Karlsruhe, 2005.
4. D. Giglia, M. Pritt: Two-Dimensional Phase Unwrapping, New York: Wiley, 1998.
5. M. Petz: Rasterreflexions-Photogrammetrie - Ein neues Verfahren zur geometrischen Messung spiegelnder Oberflächen. Aachen: Shaker Verlag,2006.
6. J. Kaminski, S. Lowitzsch, M. Knauer, G. Häusler: Full-Field Shape Measurement of Specular Surfaces, The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns, S. 372-379, W. Osten (Hrsg.), Berlin: Springer, 2005.
7. R. Kickingereder, K. Donner: Stereo Vision on Specular Surfaces, Proceedings of IASTED Conference on Visualization, Imaging, and Image Processing,S. 335-339, 2005.
8. T. Bonfort: Reconstruction de surfaces réflé chissantes á partir d'images, Institut National Polytechnique de Grenoble, 2006.
9. J. Beyerer, D. Pérard: Automatische Inspektion spiegelnder Oberflächen anhand von Rasterreflexion, Technisches Messen 64(10), S. 394-400, 1997.
10. S. Savarese, M. Chen, P. Perona: Local Shape from Mirror Reflections, International Journal of Computer Vision 64(1), S. 31-67, 2005.
11. W. Li, T. Bothe, W. Osten, M. Kalms: Object Adapted Pattern Projection - Part I: Generation of Inverse Patterns, Optics and Lasers in Engineering 41, S. 31-50, 2004.
12. J. Beyerer, F. Puente León: Die Radontransformation in der digitalen Bildverarbeitung, at - Automatisierungstechnik 50(10), S. 472-480, 2002
13. F. Mesch: Systemtheoretische Beschreibung optisch-elektrischer Messsysteme, Teil 1: Inkohärente Systeme mit beliebigen Blenden und mit Defokussierung - Einführung und übersicht, Technisches Messen atm, 7/8, S. 249-258, 1977.
14. P. Stockseth: Properties of a Defocused Optical System, Journal of the Optical Society of America 59(10), S. 1314-1321, 1969.