Electron ionization of acetylene

Journal of Chemical Physics

Volumn 127, Issue 17, 2007, Pages

  King, Simon J ^a   Price, Stephen D ^a  

^a UNIVERSITY COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRONS; IONIZATION; IONS; KINETIC ENERGY; MASS SPECTROMETRY; POTENTIAL ENERGY SURFACES;

ELECTRON IONIZATION; FRAGMENTATION REACTIONS; ION PAIRS; ION-ION COINCIDENCE TECHNIQUE;

ACETYLENE;

EID: 35948982916     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2777154     Document Type: Article

References (84)

1. R. Courtin, D. Gautier, A. Marten, and B. Bezard, Astrophys. J. 287, 899 (1984).
2. T. Encrenaz, H. Feuchtgruber, S. K. Atreya, B. Bezard, E. Lellouch, J. Bishop, S. Edgington, T. de Graauw, M. Griffin, and M. F. Kessler, Astron. Astrophys. 333, L43 (1998).
3. M. J. McEwan and V. G. Anicich, Int. J. Mass. Spectrom. 26, 281 (2007).
4. M. J. McEwan, G. B. I. Scott, and V. G. Anicich, Int. J. Mass. Spectrom. 172, 209 (1998).
5. S. Petrie and D. K. Bohme, in Modern Mass Spectrometry (Springer-Verlag, Berlin, 2003), Vol. 225, p. 37.
6. P. Redondo, M. J. Ruiz, R. Boronat, C. Barrientos, and A. Largo, Theor. Chem. Acc. 104, 199 (2000).
7. P. V. Sada, G. L. Bjoraker, D. E. Jennings, G. H. McCabe, and P. N. Romani, Icarus 136, 192 (1998).
8. R. K. Janev, Atomic and Molecular Processes in Fusion Edge Plasmas (Plenum, New York, 1995).
9. I. A. Larionova, B. S. Fialkov, K. Y. Kalinich, A. B. Fialkov, and B. S. Ospanov, Combust., Explos. Shock Waves 29, 341 (1993).
10. F. J. Gordillo-Vazquez and J. M. Albella, Plasma Sources Sci. Technol. 11, 498 (2002).
11. M. C. McMaster, W. L. Hsu, M. E. Coltrin, D. S. Dandy, and C. Fox, Diamond Relat. Mater. 4, 1000 (1995).
12. Database Needs for Modeling and Simulation of Plasma Processing, National Research Council, National Academy Press, Washington, D.C., 1996.
13. M. R. Bruce and R. A. Bonham, Z. Phys. D: At., Mol. Clusters 24, 149 (1992).
14. B. P. Tsai and J. H. D. Eland, Int. J. Mass Spectrom. Ion Process. 36, 143 (1980).
15. P. Calandra, C. O'Connor, and S. Price, J. Chem. Phys. 112, 10821 (2000).
16. S. Harper, P. Calandra, and S. Price, Phys. Chem. Chem. Phys. 3, 741 (2001).
17. N. Love and S. Price, Phys. Chem. Chem. Phys. 6, 4558 (2004).
18. N. Love and S. Price, Int. J. Mass. Spectrom. 233, 145 (2004).
19. R. F. Stebbings and B. G. Lindsay, J. Chem. Phys. 114, 4741 (2001).
20. C. C. Tian and C. R. Vidal, Phys. Rev. A 59, 1955 (1999).
21. C. C. Tian and C. R. Vidal, Phys. Rev. A 58, 3783 (1998).
22. P. Q. Wang and C. R. Vidal, Int. J. Mass. Spectrom. 235, 207 (2004).
23. P. Q. Wang, C. R. Vidal, J. Geith, T. M. Klapotke, and W. Fuss, J. Chem. Phys. 120, 123 (2004).
24. R. Botter, V. H. Dibeler, J. A. Walker, and R. Hm, J. Chem. Phys. 44, 1271 (1966).
25. G. Cooper, T. Ibuki, Y. Iida, and C. E. Brion, Chem. Phys. 125, 307 (1988).
26. K. Furuya, K. Maruyama, E. Koto, A. Matsuo, and T. Ogawa, J. Phys. B 33, 1475 (2000).
27. T. Hayaishi, S. Iwata, M. Sasanuma, E. Ishiguro, Y. Morioka, Y. Iida, and M. Nakamura, J. Phys. B 15, 79 (1982).
28. G. K. Jarvis, K. M. Weitzel, M. Malow, T. Baer, Y. Song, and C. Y. Ng, Phys. Chem. Chem. Phys. 1, 5259 (1999).
29. K. Norwood and C. Y. Ng, J. Chem. Phys. 91, 2898 (1989).
30. Y. Ono and C. Y. Ng, J. Chem. Phys. 74, 6985 (1981).
31. K. M. Weitzel, J. Mahnert, and M. Penno, Chem. Phys. Lett. 224, 371 (1994).
32. M. Davister and R. Locht, Chem. Phys. 189, 805 (1994).
33. M. Davister and R. Locht, Chem. Phys. 191, 333 (1995).
34. R. Locht and M. Davister, Chem. Phys. 195, 443 (1995).
35. R. Locht and C. Servais, Z. Phys. Chem. 195, 153 (1996).
36. P. Plessis and P. Marmet, Int. J. Mass Spectrom. Ion Process. 70, 23 (1986).
37. C. Servais and R. Locht, Chem. Phys. Lett. 236, 96 (1995).
38. C. J. Reid, J. A. Ballantine, S. R. Andrews, and F. M. Harris, Chem. Phys. 190, 113 (1995).
39. R. Thissen, J. Delwiche, J. M. Robbe, D. Duflot, J. P. Flament, and J. H. D. Eland, J. Chem. Phys. 99, 6590 (1993).
40. G. Josifov, D. Lukic, N. Duric, and M. Kurepa, J. Serb. Chem. Soc. 65, 517 (2000).
41. K. K. Irikura, Y. K. Kim, and M. A. Ali, J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 107, 63 (2002).
42. Y. K. Kim, M. A. Ali, and M. E. Rudd, J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 102, 693 (1997).
43. H. Deutsch, K. Becker, P. Defrance, M. Probst, J. Limtrakul, and T. D. Mark, Eur. Phys. J. D 38, 489 (2006).
44. H. Deutsch, K. Becker, S. Matt, and T. D. Mark, Int. J. Mass. Spectrom. 197, 37 (2000).
45. J. T. Tate, P. T. Smith, and A. L. Vaughan, Phys. Rev. 39, 270 (1935).
46. A. Gaudin and R. Hagemann, J. Chim. Phys. Phys.-Chim. Biol. 64, 1209 (1967).
47. S. H. Zheng and S. K. Srivastava, J. Phys. B 29, 3235 (1996).
48. C. C. Tian and C. R. Vidal, J. Phys. B 31, 895 (1998).
49. S. Feil, K. Gluch, A. Bacher, S. Matt-Leubner, D. K. Bohme, P. Scheier, and T. D. Mark, J. Chem. Phys. 124, 4307 (2006).
50. T. Shirai, T. Tabata, H. Tawara, and Y. Itikawa, At. Data Nucl. Data Tables 80, 147 (2002).
51. D. M. Curtis and J. H. D. Eland, Int. J. Mass Spectrom. Ion Process. 63, 241 (1985).
52. J. H. D. Eland, F. S. Wort, P. Lablanquie, and I. Nenner, Z. Phys. D: At., Mol. Clusters 4, 31 (1986).
53. R. I. Hall, L. Avaldi, G. Dawber, A. G. McConkey, M. A. Macdonald, and G. C. King, Chem. Phys. 187, 125 (1994).
54. T. Kinugawa, P. Lablanquie, F. Penent, J. Palaudoux, and J. H. D. Eland, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 141, 143 (2004).
55. S. R. Andrews, F. M. Harris, and D. E. Parry, Chem. Phys. 166, 69 (1992).
56. O. Furuhashi, T. Kinugawa, S. Masuda, C. Yamada, and S. Ohtani, Chem. Phys. Lett. 342, 625 (2001).
57. N. Jeffreys, S. R. Andrews, D. E. Parry, and F. M. Harris, Rapid Commun. Mass Spectrom. 10, 1693 (1996).
58. X. S. Li and H. B. Schlegel, J. Phys. Chem. A 108, 468 (2004).
59. J. Palaudoux and M. Hochlaf, J. Chem. Phys. 126, 4302 (2007).
60. J. A. Pople, M. J. Frisch, K. Raghavachari, and P. V. Schleyer, J. Comput. Chem. 3, 468 (1982).
61. T. S. Zyubina, Y. A. Dyakov, S. H. Lin, A. D. Bandrauk, and A. M. Mebel, J. Chem. Phys. 123, 134320 (2005).
62. D. Duflot, J. M. Robbe, and J. P. Flament, J. Chem. Phys. 102, 355 (1995).
63. W. C. Wiley and I. H. McLaren, Rev. Sci. Instrum. 26, 1150 (1955).
64. M. R. Bruce and R. A. Bonham, Int. J. Mass Spectrom. Ion Process. 123, 97 (1993).
65. C. Ma, M. R. Bruce, and R. A. Bonham, Phys. Rev. A 44, 2921 (1991).
66. H. C. Straub, P. Renault, B. G. Lindsay, K. A. Smith, and R. F. Stebbings, Phys. Rev. A 54, 2146 (1996).
67. M. R. Bruce, C. Ma, and R. A. Bonham, Chem. Phys. Lett. 190, 285 (1992).
68. M. R. Bruce, L. Mi, C. R. Sporleder, and R. A. Bonham, J. Phys. B 27, 5773 (1994).
69. L. J. Frasinski, M. Stankiewicz, P. A. Hatherly, and K. Codling, Meas. Sci. Technol. 3, 1188 (1992).
70. D. A. Hagan and J. H. D. Eland, Org. Mass Spectrom. 27, 855 (1992).
71. S. Feil, A. Bacher, M. Zangerl, W. Schustereder, K. Gluch, and P. Scheier, Int. J. Mass. Spectrom. 233, 325 (2004).
72. L. G. Christophorou and J. K. Olthoff, J. Phys. Chem. Ref. Data 28, 131 (1999).
73. M. V. Kurepa and D. S. Belic, J. Phys. B 11, 3719 (1978).
74. L. Mi, C. R. Sporleder, and R. A. Bonham, Chem. Phys. Lett. 251, 252 (1996).
75. J. H. D. Eland, F. S. Wort, and R. N. Royds, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 41, 297 (1986).
76. A. S. Alnaser, I. Litvinyuk, T. Osipov, J. Phys. B 39, S485 (2006).
77. S. Boye-Peronne, D. Gauyacq, and J. Lievin, J. Chem. Phys. 124, 4305 (2006).
78. S. Hayakawa, M. Takahashi, K. Arakawa, and N. Morishita, J. Chem. Phys. 110, 2745 (1999).
79. S. Hayakawa, K. Tomozawa, T. Takeuchi, K. Arakawa, and N. Morishita, Phys. Chem. Chem. Phys. 5, 2386 (2003).
80. T. Osipov, C. L. Cocke, M. H. Prior, A. Landers, T. Weber, O. Jagutzki, L. Schmidt, H. Schmidt-Bocking, and R. Dorner, Phys. Rev. Lett. 90, 233002 (2003).
81. S. Leach, J. Eland, and S. Price, J. Phys. Chem. 93, 7575 (1989).
82. S. Leach, J. Eland, and S. Price, J. Phys. Chem. 93, 7583 (1989).
83. H. Y. Afeety, J. F. Liebman, and S. E. Stein, Neutral Thermochemical Data, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburgh, MD 20899, June 2005 (http://webbook.nist.gov).
84. S. G. Lias, Ion Energetics Data, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, June 2005 (http://webbook.nist.gov).