Host structure engineering in thermoelectric clathrates

Chemistry of Materials

Volumn 19, Issue 20, 2007, Pages 4896-4905

  Christensen, M ^a   Iversen, B B ^a  

^a AARHUS UNIVERSITY   (Denmark)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL GROWTH FROM MELT; ELECTRIC PROPERTIES; NEUTRON DIFFRACTION; SYNTHESIS (CHEMICAL); TRANSPORT PROPERTIES; X RAY POWDER DIFFRACTION;

BOND DISTANCES; CLATHRATE; EINSTEIN TEMPERATURES; FLUX GROWTH; STOICHIOMETRIC MIXING;

BARIUM COMPOUNDS;

EID: 35348841517     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm071435p     Document Type: Article

References (32)

1. Slack, G. A. In New Materials and Performance Limits for Thermoeletric Cooling; Rowe, D. M., Ed.; CRC Press: Boca Raton, FL, 1995.
2. Nolas, G. S.; Cohn, J. L.; Slack, G. A.; Schujman, S. B. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3133-3144.
3. Sales, B. C.; Chakoumakos, B. C.; Jin, R.; Thompson, J. R.; Mandrus, D. Phys. Rev. B 2001, 63, 245113.
4. Paschen, S.; Pacheco, V.; Bentien, A.; Sanchez, A.; Carrillo-Cabrera, W.; Baenitz, M.; Iversen, B. B.; Grin, Y.; Steglich, F. Physica B 2003, 328, 39-43.
5. Bentien, A.; Christensen, M.; Bryan, J. D.; Sanchez, A.; Paschen, S.; Steglich, F.; Stucky, G. D.; Iversen, B. B. Phys. Rev. B 2004, 69, 045107.
6. Umeo, K.; Avila, M. A.; Sakata, T.; Suekuni, K.; Takabatake, T. J. Phys. Soc. Jpn. 2005, 74, 2145-2148.
7. Hermann, R. P.; Keppens, V.; Bonville, P.; Nolas, G. S.; Grandjean, F.; Long, G. J.; Christen, H. M.; Chakoumakos, B. C.; Sales, B. C.; Mandrus, D. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 017401.
8. Christensen, M.; Lock, N.; Overgaard, J.; Iversen, B. B. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15657-15665.
9. Saramat, A.; Svensson, G.; Palmqvist, A. E. C.; Stiewe, C.; Mueller, E.; Platzek, D.; Williams, S. G. K.; Rowe, D. M.; Bryan, J. D.; Stucky, G. D. J. Appl. Phys. 2006, 99, 023708.
10. Christensen, M.; Snyder, G. J.; Iversen, B. B. Proc. 25th Int. Conf. on Thermoelectrics 2006.
11. Paschen, S.; Carrillo-Cabrera, W.; Bentien, A.; Tran, V. H.; Baenitz, M.; Grin, Y.; Steglich, F. Phys. Rev. B 2001, 64, 214404.
12. Qiu, L.; Swainson, I. P.; Nolas, G. S.; White, M. A. Phys. Rev. B 2004, 70, 035208.
13. Baumbach, R.; Bridges, F.; Downward, L.; Cao, D.; Chesler, P.; Sales, B. Phys. Rev. B 2005, 71, 024202.
14. Chakoumakos, B. C.; Sales, B. C.; Mandrus, D. G. J. Alloys and Compounds 2001, 322, 127-134.
15. Chakoumakos, B. C.; Sales, B. C.; Mandrus, D. G.; Nolas, G. S. J. Alloys Compd. 2000, 296, 80-86.
16. Bentien, A.; AEC, A. E. C. P.; Bryan, J. D.; Latturner, S.; Stucky, G. D.; L, L. F.; Iversen, B. B. Angew. Chem., Int. Ed. 2000, 39, 3613-3616.
17. Eisenmann, B.; Schäfer, H.; Zagler, R. J Less-Com. Met. 1986, 118, 43-55.
18. Bentien, A.; Nishibori, E.; Paschen, S.; Iversen, B. B. Phys. Rev. B 2005, 71, 144107.
19. Zhang, Y. G.; Lee, P. L.; Nolas, G. S.; Wilkinson, A. P. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2931-2933.
20. Zhang, Y.; Wilkinson, A. P.; Nolas, G. S.; Lee, P. L.; Hodges, J. P. J. Appl. Crystallogr. 2003, 36, 1182-1189.
21. Rodriguez-Carvajal, J. Fullprof, ver. 3.20; Feb 2005.
22. Handbook of Chemistry and Physics, 77th ed.; Lide, D. R., Ed.; CRC Press: Boca Raton, FL, 1996-1997.
23. Sheldrick, G. M. SAINT-Plus, SADABS, and SHELX programs; Bruker AXS Inc.: Madison, WI, 2003.
24. Schultz, A. J. Trans. Am. Crystallogr. Assoc. 1993, 29, 29-41.
25. Schultz, A. J.; De Lurgio, P. M.; Hammonds, J. P.; Mikkelson, D. J.; Mikkelson, R. L.; Miller, M. E.; Naday, I.; Peterson, P. F.; Porter, R. R.; Worlton, T. G. Physica B 2006, 385-86, 1059-1061.
26. Schultz, A. J.; Leung, P. C. W. Journal De Physique 1986, 47, 137-142.
27. Larson, A. C.; Dreele, R. B. V. Los Alamos National Laboratory Report LAUR, 2004, 86-748.
28. Blake, N. P.; Bryan, D.; Latturner, S.; Møllnitz, L.; Stucky, G. D.; Metiu, H. J. Chem. Phys. 2001, 114, 10063-10074.
29. Löwenstein, W. Am. Mineral. 1954, 39, 92.
30. Fujita, I.; Kishimoto, K.; Sato, M.; Anno, H.; Koyanagi, T. J. Appl. Phys. 2006, 99, 093707.
31. Madsen, G. K. H.; Santi, G. Phys. Rev. B 2005, 72, 220301.
32. Christensen, M.; Iversen, B. B. Proc. 4th European Conference on Thermoelectrics; 2006.