-
1
-
-
0242605620
-
-
Andry, P, Kagan, C. R, Eds, Marcel Dekker: New York
-
Andry, P., Kagan, C. R., Eds. Thin-Film Transistors; Marcel Dekker: New York, 2003.
-
(2003)
Thin-Film Transistors
-
-
-
4
-
-
0035025694
-
-
Dimitrakopoulos, C. D.; Mascaro, D. J. IBM J. Res., Dev. 2001, 45, 11.
-
(2001)
IBM J. Res., Dev
, vol.45
, pp. 11
-
-
Dimitrakopoulos, C.D.1
Mascaro, D.J.2
-
5
-
-
0003453723
-
-
Bubert, H, Jenett, H. Eds, Wiley-VCH: Weinheim
-
Bubert, H., Jenett, H. Eds Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation and Applications; Wiley-VCH: Weinheim, 2002.
-
(2002)
Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation and Applications
-
-
-
6
-
-
33947416524
-
-
Chabinyc, M. L.; Toney, M. F.; Kline, R. J.; McCulloch, I.; Heeney, M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 3226.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc
, vol.129
, pp. 3226
-
-
Chabinyc, M.L.1
Toney, M.F.2
Kline, R.J.3
McCulloch, I.4
Heeney, M.5
-
7
-
-
34250658543
-
-
DeLongchamp, D. M.; Kline, R. J.; Lin, E. K.; Fischer, D. A.; Richter, L. J.; Lucas, L. A.; Heeney, M.; McCulloch, I.; Northrup, J. E. Adv. Mater. 2007, 19, 833.
-
(2007)
Adv. Mater
, vol.19
, pp. 833
-
-
DeLongchamp, D.M.1
Kline, R.J.2
Lin, E.K.3
Fischer, D.A.4
Richter, L.J.5
Lucas, L.A.6
Heeney, M.7
McCulloch, I.8
Northrup, J.E.9
-
8
-
-
34248559485
-
-
Krapchetov, D. A.; Ma, H.; Jen, A. K. Y.; Fischer, D. A.; Loo, Y.-L. Langmuir 2006, 22, 9491.
-
(2006)
Langmuir
, vol.22
, pp. 9491
-
-
Krapchetov, D.A.1
Ma, H.2
Jen, A.K.Y.3
Fischer, D.A.4
Loo, Y.-L.5
-
10
-
-
0346977332
-
-
Blochwitz, J.; Fritz, T.; Pfeiffer, M.; Leo, K.; Alloway, D. M.; Lee, P. A.; Armstrong, N. R. Org. Electron. 2001, 2, 97.
-
(2001)
Org. Electron
, vol.2
, pp. 97
-
-
Blochwitz, J.1
Fritz, T.2
Pfeiffer, M.3
Leo, K.4
Alloway, D.M.5
Lee, P.A.6
Armstrong, N.R.7
-
11
-
-
0037168363
-
-
Kocharova, N.; Lukkari, J.; Viinikanoja, A.; Aaritalo, T.; Kankare, J. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 10973.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 10973
-
-
Kocharova, N.1
Lukkari, J.2
Viinikanoja, A.3
Aaritalo, T.4
Kankare, J.5
-
13
-
-
30744435611
-
-
Crouch, D. J.; Skabara, P. J.; Lohr, J. E.; McDouall, J. J. W.; Heeney, M. et al. Chem. Mater. 2005, 17, 6567.
-
(2005)
Chem. Mater
, vol.17
, pp. 6567
-
-
Crouch, D.J.1
Skabara, P.J.2
Lohr, J.E.3
McDouall, J.J.W.4
Heeney, M.5
-
14
-
-
6744248168
-
-
Shen, Y. R. Nature 1989, 337, 519.
-
(1989)
Nature
, vol.337
, pp. 519
-
-
Shen, Y.R.1
-
15
-
-
27944475904
-
-
Manaka, T.; Lim, E.; Tamura, R.; Iwamoto, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 222107.
-
(2005)
Appl. Phys. Lett
, vol.87
, pp. 222107
-
-
Manaka, T.1
Lim, E.2
Tamura, R.3
Iwamoto, M.4
-
17
-
-
33646725930
-
-
Ye, H.; Abu-Akeel, A.; Huang, J.; Katz, H. E.; Gracias, D. H. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 6528.
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc
, vol.128
, pp. 6528
-
-
Ye, H.1
Abu-Akeel, A.2
Huang, J.3
Katz, H.E.4
Gracias, D.H.5
-
18
-
-
0042709503
-
-
(a) Mushrush, M.; Facchetti, A.; Lefenfeld, M.; Katz, H. E.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 9414.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc
, vol.125
, pp. 9414
-
-
Mushrush, M.1
Facchetti, A.2
Lefenfeld, M.3
Katz, H.E.4
Marks, T.J.5
-
19
-
-
34648857431
-
-
in press
-
(b) Stokes, M. A.; Kortan, R.; Amy, S. R.; Katz, H. E.; Chabal, Y. J.; et al. J. Mater. Chem., in press.
-
J. Mater. Chem
-
-
Stokes, M.A.1
Kortan, R.2
Amy, S.R.3
Katz, H.E.4
Chabal, Y.J.5
-
20
-
-
33644524108
-
-
Ye, H.; Gu, Z.; Gracias, D. H. Langmuir 2006, 22, 1863.
-
(2006)
Langmuir
, vol.22
, pp. 1863
-
-
Ye, H.1
Gu, Z.2
Gracias, D.H.3
-
21
-
-
79956041291
-
-
Wilson, P. T.; Briggman, K. A.; Wallace, W. E.; Stephenson J. C.; Richter, L. J. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 3084.
-
(2002)
J. Appl. Phys. Lett
, vol.80
, pp. 3084
-
-
Wilson, P.T.1
Briggman, K.A.2
Wallace, W.E.3
Stephenson, J.C.4
Richter, L.5
-
22
-
-
35949008127
-
-
Du, Q.; Xiao, X.-d.; Charych, D.; Wolf, F.; Frantz, P.; Shen, Y. R.; Salmeron, M. Phys. Rev. B: Condens. Matter 1995, 51, 7456.
-
(1995)
Phys. Rev. B: Condens. Matter
, vol.51
, pp. 7456
-
-
Du, Q.1
Xiao, X.-D.2
Charych, D.3
Wolf, F.4
Frantz, P.5
Shen, Y.R.6
Salmeron, M.7
-
23
-
-
0000374847
-
-
(a) Himmelhaus, M.; Eisert, F.; Buck, M.; Grunze, M. J. Phys. Chem. 2000, 104, 576.
-
(2000)
J. Phys. Chem
, vol.104
, pp. 576
-
-
Himmelhaus, M.1
Eisert, F.2
Buck, M.3
Grunze, M.4
-
24
-
-
0037460253
-
-
(b) Nishi, N.; Hobara, D.; Yamamoto, M.; Kakiuchi, T. J. Chem. Phys. 2003, 118, 1904.
-
(2003)
J. Chem. Phys
, vol.118
, pp. 1904
-
-
Nishi, N.1
Hobara, D.2
Yamamoto, M.3
Kakiuchi, T.4
-
25
-
-
26144460549
-
-
Bethune, D. S.; Smit, R. W.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 1977, 38, 647.
-
(1977)
Phys. Rev. Lett
, vol.38
, pp. 647
-
-
Bethune, D.S.1
Smit, R.W.2
Shen, Y.R.3
|