Secondary magnetic phases in (Ga,Mn)As determined by x-ray magnetic circular dichroism

Journal of Applied Physics

Volumn 102, Issue 2, 2007, Pages

  Edmonds, K W ^a   Freeman, A A ^a   Farley, N R S ^a,b   Wang, K Y ^a   Campion, R P ^a   Gallagher, B L ^a   Foxon, C T ^a   Van Der Laan, G ^b   Arenholz, E ^c  

^a UNIVERSITY OF NOTTINGHAM   (United Kingdom)

^b DARESBURY LABORATORY   (United Kingdom)

^c LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COERCIVE FORCE; CURIE TEMPERATURE; DICHROISM; MAGNETIC FIELDS; MAGNETIZATION; MANGANESE COMPOUNDS; PRECIPITATES; SEMICONDUCTOR MATERIALS; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY;

MAGNETIC PHASES; MULTIPLET STRUCTURES; X-RAY MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM;

FERROMAGNETIC MATERIALS;

EID: 34547590831     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2756046     Document Type: Article

References (21)

1. F. Matsukura, H. Ohno, A. Shen, and Y. Sugawara, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.57.R2037 57, R2037 (1998).
2. H. Ohno, Science 0036-8075 10.1126/science.281.5379.951 281, 951 (1998).
3. O. D. Dubon, M. A. Scarpulla, R. Farschi, and K. M. Yu, Physica B 376, 630 (2006).
4. T. Jungwirth, K. Y. Wang, J. Masek, K. W. Edmonds, J. Konig, J. Sinova, M. Polini, N. A. Gonchuruk, A. H. MacDonald, M. Sawicki, A. W. Rushforth, R. P. Campion, L. X. Zhao, C. T. Foxon, and B. L. Gallagher, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.72.165204 72, 165204 (2005).
5. K. Y. Wang, M. Sawicki, K. W. Edmonds, R. P. Campion, A. W. Rushforth, A. A. Freeman, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and T. Dietl, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2162856 88, 022510 (2006); M. Sawicki, K. Y. Wang, K. W. Edmonds, R. P. Campion, A. W. Rushforth, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and T. Dietl, J. Magn. Magn. Mater. 0304-8853 10.1016/j.jmmm.2006.10.934 310, 2126 (2007).
6. K. Y. Wang, M. Sawicki, K. W. Edmonds, R. P. Campion, A. W. Rushforth, A. A. Freeman, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and T. Dietl, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2162856 88, 022510 (2006); M. Sawicki, K. Y. Wang, K. W. Edmonds, R. P. Campion, A. W. Rushforth, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and T. Dietl, J. Magn. Magn. Mater. 0304-8853 10.1016/j.jmmm.2006.10.934 310, 2126 (2007).
7. S. Ye, P. J. Klar, T. Hartmann, W. Heimbrodt, M. Lampalzer, S. Nau, T. Torunski, W. Stolz, T. Kurz, H. K. von Nidda, and A. Loidl, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1625791 83, 3927 (2003).
8. H. K. Choi, Y. S. Kim, S. S. A. Seo, I. T. Jeong, W. O. Lee, Y. S. Oh, K. H. Kim, J. C. Woo, T. W. Noh, Z. G. Kim, and Y. D. Park, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2344932 89, 102503 (2006).
9. A. Pross, S. Bending, K. Edmonds, R. P. Campion, C. T. Foxon, and B. L. Gallagher, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1669113 95, 7399 (2004).
10. R. P. Campion, K. W. Edmonds, L. X. Zhao, K. Y. Wang, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and C. R. Staddon, J. Cryst. Growth 0022-0248 10.1016/S0022-0248(02) 01939-5 247, 42 (2003).
11. K. W. Edmonds, N. R. S. Farley, R. P. Campion, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, T. K. Johal, G. van der Laan, M. Mackenzie, J. N. Chapman, and E. Arenholz, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1751619 84, 4065 (2004).
12. E. Arenholz and S. Prestemon, Rev. Sci. Instrum. 0034-6748 10.1063/1.2008027 76, 083908 (2005).
13. H. Ohldag, V. Solinus, F. U. Hillebrecht, J. B. Goedkoep, M. Finazzi, F. Matsukura, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.126519 76, 2928 (2000).
14. O. Rader, K. Fauth, C. Gould, C. Rüster, G. M. Schott, G. Schmidt, K. Brunner, L. W. Molenkamp, G. Schutz, F. Kronast, H. A. Durr, W. Eberhardt, and W. Gudat, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 144-147, 789 (2005).
15. K. W. Edmonds, G. van der Laan, A. A. Freeman, N. R. S. Farley, T. K. Johal, R. P. Campion, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and E. Arenholz, Phys. Rev. Lett. 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.96.117207 96, 117207 (2006).
16. G. van der Laan and B. T. Thole, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.43.13401 43, 13401 (1991).
17. A. Kimura, S. Suga, T. Shishidou, S. Imada, T. Muro, S. Y. Park, T. Miyahara, T. Kaneko, and T. Kanomata, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.56.6021 56, 6021 (1997).
18. J. Okabayashi, M. Mizuguchi, M. Oshima, H. Shimizu, M. Tanaka, M. Yuri, and C. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1637430 83, 5485 (2003).
19. B. T. Thole, P. Carra, F. Sette, and G. van der Laan, Phys. Rev. Lett. 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.68.1943 68, 1943 (1992).
20. P. Carra, B. T. Thole, M. Altarelli, and X. Wang, Phys. Rev. Lett. 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.70.694 70, 694 (1993).
21. T. Jungwirth, J. Mašek, K. Y. Wang, K. W. Edmonds, M. Sawicki, M. Polini, J. Sinova, A. H. MacDonald, R. P. Campion, L. X. Zhao, N. R. S. Farley, T. K. Johal, G. van der Laan, C. T. Foxon, and B. L. Gallagher, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.73.165205 73, 165205 (2006).