메뉴 건너뛰기




Volumn 75, Issue 6, 2007, Pages

Sputter roughening of inhomogeneous surfaces: Impurity pinning and nanostructure shape selection

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COMPUTER SIMULATION; CONCENTRATION (PROCESS); CRYSTAL IMPURITIES; NANOSTRUCTURED MATERIALS; SCALING LAWS; SURFACE MORPHOLOGY;

EID: 34547275112     PISSN: 15393755     EISSN: 15502376     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevE.75.061607     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (24)
  • 2
    • 0000545355 scopus 로고
    • PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.74.4746
    • R. Cuerno and A-L. Barabási, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.74.4746 74, 4746 (1995).
    • (1995) Phys. Rev. Lett. , vol.74 , pp. 4746
    • Cuerno, R.1    Barabási, A.-L.2
  • 3
    • 5544220449 scopus 로고
    • PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.75.3894
    • M. Rost and J. Krug, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.75.3894 75, 3894 (1995).
    • (1995) Phys. Rev. Lett. , vol.75 , pp. 3894
    • Rost, M.1    Krug, J.2
  • 5
    • 0011877569 scopus 로고
    • PLEEE8 1063-651X 10.1103/PhysRevE.52.4853
    • R. Cuerno and K. B. Lauritsen, Phys. Rev. E PLEEE8 1063-651X 10.1103/PhysRevE.52.4853 52, 4853 (1995).
    • (1995) Phys. Rev. e , vol.52 , pp. 4853
    • Cuerno1    Lauritsen R, K.B.2
  • 6
    • 0001149866 scopus 로고    scopus 로고
    • PLEEE8 1063-651X 10.1103/PhysRevE.54.3577
    • K. B. Lauritsen, R. Cuerno, and H. A. Makse, Phys. Rev. E PLEEE8 1063-651X 10.1103/PhysRevE.54.3577 54, 3577 (1996).
    • (1996) Phys. Rev. e , vol.54 , pp. 3577
    • Lauritsen, K.B.1    Cuerno, R.2    Makse, H.A.3
  • 7
    • 0034319951 scopus 로고    scopus 로고
    • PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.85.4116
    • F. Frost, A. Schindler, and F. Bigl, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.85.4116 85, 4116 (2000).
    • (2000) Phys. Rev. Lett. , vol.85 , pp. 4116
    • Frost, F.1    Schindler, A.2    Bigl, F.3
  • 10
    • 0003250876 scopus 로고
    • APPLAB 0003-6951 10.1063/1.108957
    • E. Chason and T. M. Mayer, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.108957 62, 363 (1993).
    • (1993) Appl. Phys. Lett. , vol.62 , pp. 363
    • Chason, E.1    Mayer, T.M.2
  • 12
    • 0030213834 scopus 로고    scopus 로고
    • SUSCAS 0039-6028 10.1016/0039-6028(96)00768-6
    • X. S. Wang, R. J. Pechman, and J. H. Weaver, Surf. Sci. SUSCAS 0039-6028 10.1016/0039-6028(96)00768-6 364, L511 (1996).
    • (1996) Surf. Sci. , vol.364 , pp. 511
    • Wang, X.S.1    Pechman, R.J.2    Weaver, J.H.3
  • 14
    • 0032163557 scopus 로고    scopus 로고
    • SUSCAS 0039-6028 10.1016/S0039-6028(98)00425-7
    • A. C. T. Chan and G. C. Wang, Surf. Sci. SUSCAS 0039-6028 10.1016/S0039-6028(98)00425-7 414, 17 (1998).
    • (1998) Surf. Sci. , vol.414 , pp. 17
    • Chan, A.C.T.1    Wang, G.C.2
  • 17
    • 0001219364 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.60.16950
    • S. G. Mayr, M. Moske, and K. Samwer, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.60.16950 60, 16950 (1999).
    • (1999) Phys. Rev. B , vol.60 , pp. 16950
    • Mayr, S.G.1    Moske, M.2    Samwer, K.3
  • 18
    • 33644930603 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.73.104107
    • C. Streng, K. Samwer, and S. G. Mayr, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.73.104107 73, 104107 (2006).
    • (2006) Phys. Rev. B , vol.73 , pp. 104107
    • Streng, C.1    Samwer, K.2    Mayr, S.G.3
  • 19
    • 42749104127 scopus 로고    scopus 로고
    • PLEEE8 1063-651X 10.1103/PhysRevE.70.011604
    • S. W. Ong, E. S. Tok, and H. C. Kang, Phys. Rev. E PLEEE8 1063-651X 10.1103/PhysRevE.70.011604 70, 011604 (2004).
    • (2004) Phys. Rev. e , vol.70 , pp. 011604
    • Ong, S.W.1    Tok, E.S.2    Kang, H.C.3
  • 23


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.