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Volumn 119, Issue 855, 2007, Pages 583-589

High-precision CTE measurement of SiC-100 for cryogenic space telescopes

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EID: 34347206667     PISSN: 00046280     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1086/518870     Document Type: Article
Times cited : (14)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.