Thermal conductivity measurements of semitransparent single-walled carbon nanotube films by a bolometric technique

Nano Letters

Volumn 7, Issue 4, 2007, Pages 900-904

  Itkis, Mikhail E ^a   Borondics, Ferenc ^a,b   Yu, Aiping ^a   Haddon, Robert C ^a  

^a University of California Riverside   (United States)

^b INSTITUTE OF EXPERIMENTAL MEDICINE   (Hungary)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BOLOMETRIC TECHNIQUE; HEAT SOURCES; VACUUM FILTRATION;

BOLOMETERS; ELECTRON TRANSPORT PROPERTIES; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES (SWCN); TEMPERATURE MEASUREMENT; THERMAL CONDUCTIVITY; THERMOMETERS;

ULTRATHIN FILMS;

CARBON NANOTUBE;

ARTICLE; ARTIFICIAL MEMBRANE; CHEMISTRY; ELECTROCHEMISTRY; GENETIC PROCEDURES; INSTRUMENTATION; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; THERMAL CONDUCTIVITY; THERMOGRAPHY; TRANSDUCER; ULTRASTRUCTURE;

BIOSENSING TECHNIQUES; ELECTROCHEMISTRY; MATERIALS TESTING; MEMBRANES, ARTIFICIAL; NANOTECHNOLOGY; NANOTUBES, CARBON; PARTICLE SIZE; THERMAL CONDUCTIVITY; THERMOGRAPHY; TRANSDUCERS;

EID: 34248163371     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl062689x     Document Type: Article

References (37)

1. Bekyarova, E.; Davis, M.; Burch, T.; Itkis, M. E.; Zhao, B.; Sunshine, S.; Haddon, R. C. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 19717-19720.
2. Snow, E. S.; Perkins, F. K.; Houser, E. J.; Badescu, S. C.; Reinecke, T. L. Science 2005, 307, 1942-1945.
3. Wu, Z.; Chen, Z.; Du, X.; Logan, J. M.; Sippel, J.; Nikolou, M.; Kamaras, K.; Reynolds, J. R.; Tanner, D. B.; Hebard, A. F.; Rinzler, A. G. Science 2004, 305, 1273-1276.
4. Artukovic, E.; Kaempgen, M.; Hetch, D. S.; Roth, S.; Gruner, G. Nano Lett. 2005, 5, 757-760.
5. Zhang, M.; Fang, S.; Zakhidov, A. A.; Lee, S. B.; Aliev, A. E.; Williams, C.; Atkinson, K. R.; Baughman, R. H. Science 2005, 309, 1215-1219.
6. Zhang, D.; Ryu, K.; Liu, X.; Polikarpov, E.; Ly, J.; Tompson, M. E.; Zhou, C. Nano Lett. 2006, 6, 1880-1886.
7. Gruner, G. J. Mater. Chem. 2006, 16, 3533-3539.
8. Yu, A.; Itkis, M. E.; Bekyarova, E.; Haddon, R. C. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 133102.
9. Itkis, M. E.; Borondics, F.; Yu, A.; Haddon, R. C. Science 2006, 312, 413-416.
10. Hu, L.; Hecht, D. S.; Gruner, G. Nano Lett. 2004, 4, 2513-2517.
11. Bekyarova, E.; Itkis, M. E.; Cabrera, N.; Zhao, B.; Yu, A.; Gao, J.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 5990-5995.
12. Hone, J.; Llaguno, M. C.; Nemes, N. M.; Johnson, A. T.; Fischer, J. E.; Walters, D. A.; Casavant, M. J.; Schmidt, J.; Smalley, R. E. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 666-668.
13. Yu, C. H.; Shi, L.; Yao, Z.; Li, D. Y.; Majumdar, A. Nano Lett. 2005, 5, 1842-1846.
14. Kim, P.; Shi, L.; Majumdar, A.; McEuen, P. L. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 215502.
15. Fujii, M.; Zhang, X.; Xie, H. Q.; Ago, H.; Takahashi, K.; Ikuta, T.; Abe, H.; Shimizu, T. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 065502.
16. Pop, E.; Mann, D.; Wang, Q.; Goodson, K.; Dai, H. J. Nano Lett. 2006, 6, 96-100.
17. Yi, W.; Lu, L.; Dian-lin, Z.; Pan, Z. W.; Xie, S. S. Phys. Rev. B 1999, 59, R9015-R9018.
18. Choi, T. Y.; Poulikakos, D.; Tharian, J.; Sennhauser, U. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 013108.
19. Choi, T. Y.; Poulikakos, D.; Tharian, J.; Sennhauser, U. Nano Lett. 2006, 6, 1589-1593.
20. Hone, J.; Whitney, M.; Piskoti, C.; Zettl, A. Phys. Rev. B 1999, 59, R2514-R2516.
21. Hone, J.; Liaguno, M. C.; Biercuk, M. J.; Johnson, A. T.; Batlogg, B.; Benes, Z.; Fischer, J. E. Appl. Phys. A 2002, 74, 339-343.
22. Gonnet, P.; Liang, Z.; Choi, E. S.; Kadambala, R. S.; Zhang, C.; Brooks, J. S.; Wang, B.; Kramer, L. Curr. Appl Phys. 2006, 6, 119-122.
23. Tritt, T. M. Thermal Conductivity: Theory, Properties and Applications; Kluwer Academic/Plenum Publishers: New York, 2004.
24. Itkis, M. E.; Perea, D.; Niyogi, S.; Love, J.; Tang, J.; Yu, A.; Kang, C.; Jung, R.; Haddon, R. C. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12770-12775.
25. Yu, A.; Bekyarova, E.; Itkis, M. E.; Fakhrutdinov, D.; Webster, R.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 9902-9908.
26. Gao, G.; Cagin, T.; Goddard, W. A., III Nanotechnology 1998, 9, 184-191.
27. Zhao, B.; Itkis, M. E.; Niyogi, S.; Hu, H.; Perea, D.; Haddon, R. C. J. Nanosci. Nanotechnol 2004, 4, 995-1004.
28. Zhao, B.; Itkis, M. E.; Niyogi, S.; Hu, H.; Zhang, J.; Haddon, R. C. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8136-8141.
29. Zawilski, B. M.; Littleton, R. T.; Tritt, T. M. Rev. Sci. Instrum. 2001, 72, 1770-1774.
30. Fischer, J. E.; Zhou, W.; Vavro, J.; Liaguno, M. C.; Guthy, G.; Haggenmueller, R.; Casavant, M. J.; Walters, D. E.; Smalley, R. E. J. Appl. Phys. 2003, 93, 2157-2163.
31. Zhou, W.; Vavro, J.; Nemes, N. M.; Fischer, J. E.; Borondics, F.; Kamaras, K.; Tanner, D. B. Phys. Rev. B 2005, 71, 205423.
32. Borondics, F.; Kamaras, K.; Nikolou, M.; Tanner, D. B.; Chen, Z. H.; Rinzler, A. G. Phys Rev. B 2006, 74, 045431.
33. Borca-Tasciuc, D. A.; Pietruzska, L.; Borca-Tasciuc, T.; Vajtai, R.; Ajayan, P. M., 21st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management (SEMI-THERM) Symposium, San Jose, CA, 2005, p 283.
34. Shenogin, S.; Xue, L. P.; Ozisik, R.; Keblinski, P.; Cahill, D. G. J. Appl. Phys. 2004, 95, 8136-8144.
35. Shenogina, N.; Shenogin, S.; Xue, L.; Keblinski, P. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 133106.
36. Fuhrer, M. S.; Nygard, J.; Shih, L.; Forero, M.; Yoon, Y.-G.; Mazzoni, M. S. C.; Choi, H. J.; Ihm, J.; Louie, S. G.; Zettl, A.; McEuen, P. L. Science 2000, 288, 494-497.
37. Shenogin, S.; Bodapati, A.; Xue, L.; Ozisik, R.; Keblinski, P. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 2229-2231.