Photovoltaic and interfacial properties of heterojunctions containing dye-sensitized dense TiO2 and tri-arylamine derivatives

Chemistry of Materials

Volumn 19, Issue 8, 2007, Pages 2071-2078

  Johansson, Erik M J ^a   Karlsson, Patrik G ^a   Hedlund, Maria ^a   Ryan, Declan ^a   Siegbahn, Hans ^a   Rensmo, Håkan ^a  

^a UPPSALA UNIVERSITY   (Sweden)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMINES; DYES; HETEROJUNCTIONS; INTERFACES (MATERIALS); PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PHOTOVOLTAIC EFFECTS; SYNTHESIS (CHEMICAL); TITANIUM DIOXIDE;

ELECTRON CONDUCTOR; HOLE CONDUCTORS; MOLECULAR INTERFACIAL STRUCTURES; TRIARYLAMINE DERIVATIVES;

DERIVATIVES;

EID: 34247557459     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm062498v     Document Type: Article

References (31)

1. O'Regan, B.; Grätzel, M. Nature 1991, 355, 737.
2. Bach, U.; Lupo, D.; Comte, P.; Moser, J. E.; Weissörtel, F.; Salbeck, J.; Spreitzer, H.; Grätzel, M. Nature 1998, 395, 583-585.
3. Saito, Y.; Kitamura, T.; Wada, Y.; Yanagida, S. Synth. Met. 2002, 131, 185-187.
4. Saito, Y.; Fukuri, N.; Senadeera, R.; Kitamura, T.; Wada, Y.; Yanagida, S. Electrochem. Commun. 2004, 6, 71.
5. Smestad, G. P.; Spiekermann, S.; Kowalik, J.; Grant, C. D.; Schwartzberg, A. M.; Zhang, J.; Tolbert, L. M.; Moons, E. Sol. Energy Mater. Sol. Cells 2003, 76, 85.
6. Grant, C. D,; Schwartzberg, A. M.; Smestad, G. P.; Kowalik, J.; Tolbert, L. M.; Zhang, J. Z. Synth. Met. 2003, 132, 197.
7. Spiekermann, S.; Smestad, G.; Kowalik, J.; Tolbert, L. M.; Grätzel, M. Synth. Met. 2001, 121, 1603.
8. Liu, Y.; Summers, M. A., Edder, C.; Frechet, J. M. J.; McGehee, M. D. Adv. Mater. 2005, 17, 2960.
9. Johansson, E. M. J.; Sandell, A.; Siegbahn, H.; Rensmo, H.; Mahrov, B.; Boschloo, G.; Figgemeier, E.; Hagfeldt, A.; Jönsson, S. K. M.; Fahlman, M. Synth. Met. 2005, 149, 157.
10. Hagen, J.; Schaffrath, W.; Otschik, P.; Fink, R.; Bacher, A.; Schmidt, H. W.; Haarer, D. Synth. Met. 1997, 89, 215-220.
11. Jäger, C.; Haarer, D.; Peng, B.; Thelakkat, M. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 6185.
12. Schmidt-Mende, L.; Bach, U.; Humphry-Baker, R.; Horiuchi, T.; Miura, H.; Ito, S.; Uchida, S.; Grätzel, M. Adv. Mater. 2005, 17, 813.
13. Snaith, H. J.; Zakeeruddin, S. M.; Schmidt-Mende, L.; Klein, C.; Grätzel, M. Angew. Chem., Int. Ed. 2005, 44, 6413.
14. Schmidt-Mende, L.; Zakeeruddin, S. M.; Grätzel, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 013504.
15. Eichberger, R.; Willig, F. Chem. Phys. 1990, 141, 159.
16. Tachibana, Y.; Moser, J. E.; Gratzel, M.; Klog, D. R.; Durrant, J. R. J. Phys. Chem. 1996, 100, 20056.
17. Benkö, G.; Myllyperkiö, P.; Pan, J.; Yartsev, A. P.; Sundström, V. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 1118-1119.
18. Schnadt, J.; Bruhwiler, P. A.; Pattey, L.; O'Shea, J. N.; Södergren, S.; Odelius, M.; Ahuja, R.; Karis, O.; Bässler, M.; Persson, P.; Siegbahn, H.; Lunell, S.; Mårtensson, N. Nature 2002, 418, 620-623.
19. Schmidt-Mende, L.; Kroeze, J. E.; Durrant, J. R.; Nazeeruddin, M. K.; Gratzel, M. Nano Lett. 2005, 5 (7), 1315-1320.
20. Westermark, K.; Rensmo, H.; Siegbahn, H.; Keis, K.; Hagfeldt, A.; Ojamae, L.; Persson, P. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 10102.
21. Rensmo, H.; Westermark, K.; Södergren, S.; Kohle, O.; Persson, P.; Lunell, S.; Siegbahn, H. J. Chem. Phys. 1999, 111, 2744-2750.
22. Westermark, K.; Rensmo, H.; Schnadt, J.; Persson, P.; Södergren, S.; Brühwiler, P. A.; Lunell, S.; Siegbahn, H. J. Chem. Phys. 2002, 285, 167.
23. Johansson, E. M. J.; Hedlund, M.; Siegbahn, H.; Rensmo, H. J. Phys. Chem. B 2005, 109 (47), 22256-22263.
24. Karlsson, P. G,; Bolik, S.; Richter, J. H.; Mahrov, B.; Johansson, E. M. J.; Blomquist, J.; Uvdal, P.; Rensmo, H.; Siegbahn, H.; Sandell, A. J. Chem. Phys. 2004, 120 (23), 11224-11232.
25. Mahrov, B.; Boschloo, G,; Hagfeldt, A.; Siegbahn, H.; Rensmo, H. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 11604-11610.
26. Kavan, L.; Grätzel, M. Electrochim. Acta 1995, 40, 643-652.
27. Suemori, K.; Miyata, T.; Yokoyama, M.; Hiramoto, M. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 6269-6271.
28. (a) Svensson, S.; Forsell, J.-O.; Siegbahn, H.; Ausmees, A.; Bray, G.; Södergren, S.; Sundin, S.; Osborne, S. J.; Aksela, S.; Nömmiste, E.; Jauhiainen, J.; Karvonen, M. J.; Salaneck P. W. R.; Evaldsson, A.; Lögdlund, M.; Fahlman, A. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 2149.
29. (b) Bässler, M.; Forsell, J.-O.; Bjömeholm, O.; Feifel, R.; Jurvansuu, M.; Aksela, S.; Sundin, S.; Sorensen, S. L.; Nyholm, R.; Ausmees, A.; Svensson, S. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 101-103, 953.
30. Hagfeldt, A.; Grätzel, M. Chem. Rev. 1995, 95, 49-68.
31. http://www.hwsands.com.