Enhanced nonlinear optical effects with a tapered plasmonic waveguide

Nano Letters

Volumn 7, Issue 2, 2007, Pages 334-337

  Verhagen, Ewold ^a   Kuipers, Laurens ^a   Polman, Albert ^a  

^a FOM INSTITUTE AMOLF   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

INTERFACES (MATERIALS); NONLINEAR OPTICS; PHOTOLUMINESCENCE; PLANAR WAVEGUIDES; SAPPHIRE; SILVER;

INFRARED SURFACE PLASMON POLARITONS (SPP); INTERFERENCE PATTERNS; NONLINEAR OPTICAL EFFECTS;

PLASMONS;

EID: 33847724005     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl062440f     Document Type: Article

References (35)

1. Chang, R.; Furtak, T. Surface Enhanced Raman Scattering; Plenum: New York, 1981.
2. van Nieuwstadt, J. A. H.; Sandtke, M.; Harmsen, R. H.; Segerink, F. B.; Prangsma, J. C.; Enoch, S.; Kuipers, L. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 146102, and references therein.
3. Barnes, W. L.; Dereux, A.; Ebbesen, T. W. Nature 2003, 424, 824-830.
4. Baluschev, S.; Yu, F.; Ahl, S.; Yasuda, A.; Nelles, G.; Knoll, W.; Wegner, G. Nano Lett. 2005, 5, 2482-2484.
5. Bozhevolnyi, S. I.; Erland, J.; Leosson, K.; Skovgaard, P. M. W.; Hvam, J. M. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 3008-3011.
6. Ditlbacher, H.; Hohenau, A.; Wagner, D.; Kreibig, U.; Rogers, M.; Hofer, F.; Aussenegg, F. R.; Krenn, J. R. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 257403.
7. Steinberger, B.; Hohenau, A.; Ditlbacher, H.; Stepanov, A. L.; Drezet, A.; Aussenegg, F. R.; Leitner, A.; Krenn, J. R. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 094104.
8. Bozhevolnyi, S. I.; Volkov, V. S.; Devaux, E.; Laluet, J.-Y.; Ebbesen, T. W. Nature 2006, 440, 508-511.
9. Chen, L.; Shakaya, J.; Lipson, M. Opt. Lett. 2006, 31, 2133-2135.
10. Lamprecht, B.; Krenn, J. R.; Schider, G.; Ditlbacher, H.; Salerno, M.; Felidj, N.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 51-53.
11. Weeber, J.-C.; Krenn, J. R.; Dereux, A.; Lamprecht, B.; Lacroute, Y.; Goudonnet, J. P. Phys. Rev. B 2001, 64, 045411.
12. Berini, P. Phys. Rev. B 2001, 63, 125417.
13. Weeber, J.-C.; Lacroute, Y.; Dereux, A. Phys. Rev. B 2003, 68, 115401.
14. Zia, R.; Selker, M. D.; Brongersma, M. L. Phys. Rev. B 2005, 71, 165431.
15. Hohenau, A.; Krenn, J. R.; Stepanov, A. L.; Drezet, A.; Ditlbacher, H.; Steinberger, B.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Opt. Lett. 2005, 30, 893-895.
16. Drezet, A.; Stepanov, A. L.; Ditlbacher, H.; Hohenau, A.; Steinberger, B.; Aussenegg, F. R.; Leitner, A.; Krenn, J. R. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 074104.
17. Yin, L.; Vlasko-Vlasov, V. K.; Pearson, J.; Hiller, J. M.; Hua, J.; Welp, U.; Brown, D. E.; Kimball, C. W. Nano Lett. 2005, 5, 1399-1402.
18. Liu, Z.; Steele, J. M.; Srituravanich, W.; Pikus, Y.; Sun, C.; Zhang, X. Nano Lett. 2005, 5, 1726-1729.
19. Offerhaus, H. L.; van den Bergen, B.; Escalante, M.; Segerink, F. B.; Korterik, J. P.; van Hulst, N. F. Nano Lett. 2005, 5, 2144-2148.
20. Krenn, J. R.; Aussenegg, F. R. Phys. J. 2002, 1, 39-45.
21. Stockman, M. I. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 137404.
22. Koglin, J.; Fisher, U. C.; Fuchs, H. Phys. Rev. B 1997, 55, 7977-7984.
23. Janunts, N. A.; Baghdasaryan, K. S.; Nerkararyan, K. V.; Hecht, B. Opt Commun. 2005, 253, 118-124.
24. Bouhelier, A.; Renger, J.; Beversluis, M. R.; Novotny, L. J. Microsc. 2003, 210, 220-224.
25. Auzel, F. Chem. Rev. 2004, 104, 139-173.
26. van den Hoven, G. N.; Snoeks, E.; Polman, A.; van Dam, C.; van Uffelen, J. W. M.; Smit, M. K. J. Appl. Phys. 1996, 79, 1258-1266.
27. Verhagen. E.; Tchebotareva, A. L.; Polman, A. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 121121.
28. van den Hoven, G. N.; Polman, A.; van Dam, C.; van Uffelen, J. W. M.; Smit, M. K. Opt. Lett. 1996, 21, 576-578.
29. Kim, D. S.; Hohng, S. C.; Malyarchuk, V.; Yoon, Y. C.; Ahn, Y. H.; Yee, K. J.; Park, J. W.; Kim, J.; Park, Q. H.; Lienau, C. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 143901.
30. Devaux, E.; Ebbesen, T. W.; Weeber, J.-C.; Dereux, A. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 4936-4938.
31. Fragola, A.; Aigouy, L.; de Wilde, Y.; Mortier, M. J. Microsc. 2002, 210, 198-202.
32. Zia, R.; Chandran, A.; Brongersma, M. L. Opt. Lett. 2005, 30, 1473-1475.
33. Kalkman, J.; Kuipers, L.; Polman, A.; Gersen, H. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 041113.
34. Burke, J. J.; Stegeman, G. I.; Tamir, T. Phys. Rev. B 1986, 33, 5186-5201.
35. Pollnau, M.; Gamelin, D. R.; Lüthi, S. R.; Güdel, H. U.; Hehlen, M. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 3337-3346.