An analytical expression for the input impedance of a fractal tree obtained by a microelectronical process and experimental measurements of its non-integral dimension

Chaos, Solitons and Fractals

Volumn 33, Issue 2, 2007, Pages 364-373

  Haba, T Cisse ^a   Loum, Georges L ^a   Ablart, G ^b  

^a Institut National Polytechnique Felix Houphouet Boigny   (Côte d’Ivoire)

^b UNIVERSITÉ DE TOULOUSE   (France)

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COMPUTER SIMULATION; EXTRACTION; FRACTALS; ITERATIVE METHODS; MICROELECTRONIC PROCESSING; MIS DEVICES;

FRACTAL TREE-INPUT IMPEDANCE; METALLIC SAMPLES; NON-INTEGRAL DIMENSIONS;

TREES (MATHEMATICS);

EID: 33847051157     PISSN: 09600779     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.chaos.2006.01.123     Document Type: Article

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