Probing molecular properties and the role of the environment at the single-molecule level

Pure and Applied Chemistry

Volumn 78, Issue 12, 2006, Pages 2261-2266

  Hofkens, J ^a   Bell, T D M ^a   Stefan, A ^a   Fron, E ^a   Mullen K ^b   De Schryver, F C ^a  

^a UNIVERSITY OF LEUVEN   (Belgium)

^b MAX PLANCK INSTITUTE FOR POLYMER RESEARCH   (Germany)

Author keywords

Electron transfer; Fluorescence; Microscopy; Polymers; Single molecule; Spectroscopy

Indexed keywords

EID: 33845604498     PISSN: 00334545     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1351/pac200678122261     Document Type: Conference Paper

References (21)

1. F. Kulzer, M. Orrit. Annu. Rev. Phys. Chem. 55, 585 (2004).
2. E. J. G. Peterman, H. Sosa, W. E. Moerner. Annu. Rev. Phys. Chem. 55, 79 (2004).
3. H. Yang, G. B. Luo, P. Karnchanaphanurach, T. M. Louie, I. Rech, S. Cova, L. Y. Xun, X. S. Xie. Science 302, 262 (2003).
4. M. W. Holman, D. M. Adams. ChemPhysChem 5, 1831 (2004).
5. H. P. Lu, X. S. Xie. J. Phys. Chem. B 101, 2753 (1997).
6. M. W. Holman, R. C. Liu, D. M. Adams. J. Am. Chem. Soc. 125, 12649 (2003).
7. V. Biju, M. Micic, D. H. Hu, H. P. Lu. J. Am. Chem. Soc. 126, 9374 (2004).
8. R. C. Liu, M. W. Holman, L. Zang, D. M. Adams. J. Phys. Chem. A 107, 6522 (2003).
9. M. A. Izquierdo, T. D. M. Bell, S. Habuchi, E. Fron, R. Pilot, T. Vosch, J. Jacob, K. Müllen, S. De Feyter, J. W. Verhoeven, J. Hofkens, F. C. De Schryver. Chem. Phys. Lett. 401, 503 (2005).
10. (a) R. Gronheid, A. Stefan, M. Cotlet, J. Hofkens, J. Q. Qu, K. Müllen, M. Van der Auweraer, J. W. Verhoeven, F. C. De Schryver. Angew. Chem., Int. Ed. 42, 4209 (2003);
11. (b) R. Gronheid, A. Stefan, M. Cotlet, J. Hofkens, J. Q. Qu, K. Müllen, M. Van der Auweraer, J. W. Verhoeven, F. C. De Schryver. Angew. Chem. 115, 4342 (2003).
12. M. Cotlet, S. Masuo, G. B. Luo, J. Hofkens, M. Van der Auweraer, J. W. Verhoeven, K. Müllen, X. S. Xie, F. C. De Schryver. Proc. Natl. Acad. Sci. USA 101, 14343 (2004).
13. (a) M. Cotlet, S. Masuo, M. Lor, E. Fron, M. Van der Auweraer, K. Müllen, J. Hofkens, F. C. De Schryver. Angew. Chem., Int. Ed. 43, 6116 (2004);
14. (b) M. Cotlet, S. Masuo, M. Lor, E. Fron, M. Van der Auweraer, K. Müllen, J. Hofkens, F. C. De Schryver. Angew. Chem. 116, 6242 (2004).
15. E. Barkai, Y. J. Jung, R. Silbey. Annu. Rev. Phys. Chem. 55, 457 (2004).
16. R. Zondervan, F. Kulzer, S. B. Orlinskii, M. Orrit. J. Phys. Chem. A 107, 6770 (2003).
17. R. Zondervan, F. Kulzer, M. A. Kol'chenko, M. Orrit. J. Phys. Chem. A 108, 1657 (2004).
18. M. Lor, J. Thielemans, L. Viaene, M. Cotlet, J. Hofkens, T. Weil, C. Hampel, K. Müllen, J. W. Verhoeven, M. Van der Auweraer, F. C. De Schryver. J. Am. Chem. Soc. 124, 9918 (2002).
19. M. Lor, S. Jordens, G. De Belder, G. Schweitzer, E. Fron, L. Viaene, M. Collet, T. Weil, K. Müllen, J. W. Verhoeven, M. Van der Auweraer, F. C. De Schryver. Photochem. Photobiol. Sci. 2, 501 (2003).
20. T. D. M. Bell, A. Stefan, S. Masuo, T. Vosch, M. Lor, M. Cotlet J. Hofkens, S. Bernhardt, K. Müllen, M. Van der Auweraer, J. W. Verhoeven, F. C. De Schryver. ChemPhysChem 6, 942 (2005).
21. E. K. L. Yeow, S. M. Melnikov, T. D. M. Bell, F. C. De Schryver, J. Hofkens. J. Phys. Chem. A 110, 1726 (2006).