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Volumn 11, Issue 10, 2006, Pages 489-495

Stability testing in an integrated scheme

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Arrhenius model; Certified reference materials; ERM; Shelf life; Stability

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EID: 33750149701     PISSN: 09491775     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s00769-006-0152-6     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.