Electric-field-induced microstructural transformation of carbon nanotubes

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 6, 2006, Pages

  Bao, Qiaoliang ^a   Zhang, Han ^a   Pan, Chunxu ^a  

^a NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL STRUCTURE; DIFFUSION; ELECTRIC FIELD EFFECTS; ELECTROSTATICS; FINITE ELEMENT METHOD; MICROSTRUCTURE; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

BULK DIFFUSION; ELECTROSTATIC FORCE; GROWTH MECHANISM; SPECIAL PROPERTIES;

CARBON NANOTUBES;

EID: 33747095116     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2227620     Document Type: Article

References (25)

1. R. H. Baughman, A. A. Zakhidov, and W. A. de Heer, Science 297, 787 (2002).
2. M. B. Nardelli, J.-L. Fattebeit, D. Orlikowski, C. Roland, Q. Zhao, and J. Bemholc, Carbon 38, 1703 (2000).
3. J. W. Park, J. Kim, J.-O. Lee, K. C. Kang, J.-J. Kim, and K.-H. Yoo, Appl. Phys. Lett. 80, 133 (2002).
4. Y. Chen, D. T. Shaw, and L. Guo, Appl. Phys. Lett. 76, 2469 (2000).
5. S. H. Jo, D. Z. Wang, J. Y. Huang, W. Z. Li, K. Kempa, and Z. F. Ren, Appl. Phys. Lett. 85, 810 (2004).
6. Y. Chen, D. T. Shaw, X. D. Bai, E. G. Wang, C. Lund, W. M. Lu, and D. D. L. Chung, Appl. Phys. Lett. 78, 2128 (2001).
7. Y. Y. Wang, S. Gupta, R. J. Nemanich, Z. J. Liu, and L. C. Qin, J. Appl. Phys. 98, 014312 (2005).
8. C. Ducati, I. Alexandrou, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, and J. Robertson, J. Appl. Phys. 92, 3299 (2002).
9. M. Endo, Y. A. Kim, Y. Fukai, T. Hayashi, M. Terrones, H. Terrones, and M. S. Dresselhaus, Appl. Phys. Lett. 79, 1531 (2001).
10. J. Menda, B. Ulmen, L. K. Vanga, V. K. Kayastha, Y. K. Yap, Z. Pan, I. N. Ivanov, A. A. Punetzky, and D. B. Geohegan, Appl. Phys. Lett. 87, 173106 (2005).
11. C. Pan, Y. Liu, F. Cao, J. Wang, and Y. Ren, Micron 35, 461 (2004).
12. Q. Bao and C. Pan, Nanotechnology 17, 1016 (2006).
13. G. Vitali, M. Rossi, M. L. Terranova, and V. Sessa, J. Appl. Phys. 77, 4307 (1995).
14. D. G. McCulloch, S. Prawer, and A. Hoffman, Phys. Rev. B 50, 5905 (1994).
15. C. Ducati, I. Alexandrou, M. Chhowalla, J. Robertson, and G. A. J. Amaratunga, J. Appl. Phys. 95, 6387 (2004).
16. K. Liu, K. Jiang, C. Feng, Z. Chen, and S. Fan, Carbon 43, 2850 (2005).
17. S. Helveg, C. López-Cartes, J. Sehested, P. L. Hansen, B. S. Clausen, J. R. Rostrup-Nielsen, F. Abild-Pedersen, and J. K. Nørskov, Nature (London) 427, 426 (2004).
18. M. Okai, T. Muneyoshi, T. Yaguchi, and S. Sasaki, Appl. Phys. Lett. 21, 3468 (2000).
19. R. T. K. Baker, P. S. Harris, R. B. Thomas, and R. J. Waite, J. Catal. 30, 86 (1973).
20. R. T. K. Baker, Carbon 27, 315 (1989).
21. O. A. Louchev, Y. Sato, and H. Kanda, Appl. Phys. Lett. 80, 2752 (2002).
22. L. H. Liang, F. Liu, D. X. Shi, W. M. Liu, X. C. Xie, and H. J. Gao, Phys. Rev. B 72, 035453 (2005).
23. A. Pantano, M. C. Boyce, and D. M. Parks, Phys. Rev. Lett. 91, 145504 (2003).
24. Y. Todokoro and I. Teramoto, J. Appl. Phys. 49, 3527 (1978).
25. M. Laudon, N. N. Carlson, M. P. Masquelier, M. S. Daw, and W. Windl, Appl. Phys. Lett. 78, 210 (2001).