Quantitative magnetic force microscopy analysis of the magnetization process in nanowire arrays

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 2, 2006, Pages

  Asenjo, A ^a   Jaafar, M ^a   Navas, D ^a   Vazquez M ^a  

^a INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ASPECT RATIO; IMAGE ANALYSIS; MAGNETIZATION; MAGNETOMETERS; MICROSCOPIC EXAMINATION; SQUIDS;

DISTRIBUTION FUNCTIONS; MAGNETIC CONTRAST; MAGNETIC FORCE MICROSCOPY; NANOWIRE ARRAYS;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 33746821371     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2221519     Document Type: Article

References (28)

1. Y. Martin, C. C. Williams, and H. K. Wickramasinghe, J. Appl. Phys. 61, 4723 (1987).
2. J. J. Sáenz, N. García, P. Grütter, E. Meyer, H. Heinzelmann, R. Wiesen-danger, L. Rosenthaler, H. R. Hidber, and H. J. Güntherodt, J. Appl. Phys. 62, 4293 (1987).
3. A. Hubert and R. Schäfer, Magnetic Domains (Springer-Verlag, Berlin, 1998).
4. A. Asenjo, D. García, J. M. García, C. Prados, and M. Vázquez, Phys. Rev. B 62, 6538 (2000).
5. H. Masuda and K. Fukuda, Science 268, 1466 (1995).
6. L. Piraux, J. M. George, J. F. Despres, C. Leroy, E. Ferain, R. Legras, K. Ounadjela, and A. Fert, Appl. Phys. Lett. 65, 2484 (1994).
7. See Proceedings of the International Workshop on Magnetic Wires, San Sebastian, Spain, special issue of J. Magn. Magn. Mater. 1-2, 249 (2002).
8. R. O'Barr, S. Y. Yamamoto, S. Schultz, W. Xu, and A. Scherer, J. Appl. Phys. 81, 4730 (1997).
9. K. Nielsch, R. B. Wehrspohn, J. Barthel, J. Kirschner, U. Gösele, S. F. Fischer, and H. Kronmüller, Appl. Phys. Lett. 79, 1360 (2001).
10. R. Ferre, K. Ounadjela, J. M. George, L. Piraux, and S. Dubois, Phys. Rev. B 56, 14066 (1997).
11. W. Wernsdorfer, B. Doudin, D. Mailly, K. Hassebach, A. Benoit, J. Meier, J.-Ph. Ansermet, and B. Barbara, Phys. Rev. Lett. 77, 1873 (1996).
12. P. M. Paulus, F. Luis, M. Kröll, G. Schmid, and L. J. de Jongh, J. Magn. Magn. Mater. 224, 180 (2001).
13. C. A. Ross et al., Phys. Rev. B 65, 144417 (2002).
14. T. G. Sorop, C. Untiedt, F. Luis, M. Kröll, M. Rasa, and L. J. de Jongh, Phys. Rev. B 67, 014402 (2003).
15. M. Vázquez et al., Physica B 343, 395 (2004).
16. M. Vázquez, C. Ramos, E. Vassallo, M. Jaafar, and A. Asenjo, Trans. Magn. Soc. Jpn. 5, 157 (2005).
17. M. E. Schabes, J. Magn. Magn. Mater. 95, 249 (1991).
18. K. Ounadjela, R. Ferre, L. Louail, J. M. George, J. L. Maurice, L. Piraux, and S. Dubois, J. Appl. Phys. 81, 5455 (1997).
19. J.-E. Wegrowe, D. Kelly, A. Franck, S. E. Gilbert, and J.-Ph. Ansermet, Phys. Rev. Lett. 82, 3681 (1999).
20. R. Hertel, J. Appl. Phys. 90, 5752 (2001).
21. C. Haginoya, S. Heike, M. Ishibashi, K. Nakamura, and K. Koike, J. Appl. Phys. 85, 8327 (1999).
22. K. Nielsch et al., J. Magn. Magn. Mater. 249, 234 (2002).
23. C. A. Ross. M. Farhoud, M. Hwang, J. I. Smith, M. Redjdal, and F. B. Humphrey, J. Appl. Phys. 89, 1310 (2001).
24. J. M. García, A. Asenjo, M. Vázquez, P. Aranda, and E. Ruiz-Hiztky, IEEE Trans. Magn. 36, 2981 (2000).
25. M. Vázquez, K. Pirota, M. Hernández-Vélez, V. M. Prida, D. Navas, R. Sanz, F. Batallán, and J. Velázquez, J. Appl. Phys. 95, 6642 (2004).
26. M. Vázquez, M. Hernandez-Velez, K. Pirota, A. Asenjo, D. Navas, J. Velázquez, P. Vargas, and C. Ramos, Eur. Phys. J. B 40, 489 (2004).
27. See Technical Specifications provided by the probe companies.
28. M. Jaafar, A. Asenjo, and M. Vázquez, IEEE Trans. Nanotechnol. (submitted).