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Volumn 38, Issue 1, 2006, Pages 216-219

Nano-scale view of atom intermixing at metal/semiconductor interfaces

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EID: 33744529549     PISSN: 17426588     EISSN: 17426596     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1088/1742-6596/38/1/052     Document Type: Article
Times cited : (26)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.