Photophysics of PTCDA and Me-PTCDI thin films: Effects of growth temperature

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 13, 2006, Pages 6891-6898

  Ferguson, A J ^a   Jones, T S ^a  

^a IMPERIAL COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; FILM GROWTH; OPTICAL PROPERTIES; PHOTOLUMINESCENCE; X RAY DIFFRACTION;

CRYSTAL QUALITY; CRYSTALLITES; LOW-ENERGY ABSORPTION; PERYLENETETRACARBOXYLIC DIANHYDRIDE (PTCDA);

THIN FILMS;

EID: 33646361574     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp056899u     Document Type: Article

References (30)

1. Forrest, S. R. Chem. Rev. 1997, 97, 1793.
2. Derouiche, H.; Bernede, J. C.; L'Hyver, J. Dyes Pigm. 2004, 63, 277.
3. Peumans, P.; Bulovic, V.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2650.
4. Nakayama, K.; Hiramoto, M.; Yokoyama, M. J. Appl. Phys. 2000, 87, 3365.
5. Nakayama, K.; Hiramoto, M.; Yokoyama, M. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 1194.
6. Leonhardt, M.; Mager, O.; Port, H. Chem. Phys. Lett. 1999, 313, 24.
7. Heutz, S.; Ferguson, A. J.; Rumbles, G.; Jones, T. S. Org. Electron. 2002, 3, 119.
8. Mobus, M.; Karl, N.; Kobayashi, T. J. Cryst. Growth 1992, 116, 495.
9. Hadicke, E.; Graser, F. Acta Crystallogr., Sect. C: Cryst. Struct. Commun. 1986, 42, 189.
10. Hoffmann, M. Ph.D. Thesis, Technical University of Dresden, 2000.
11. Lovinger, A. J.; Forrest, S. R.; Kaplan, M. L.; Schmidt, P. H.; Venkatesan, T. J. Appl. Phys. 1984, 55, 476.
12. Yanagi, H.; Toda, Y.; Noguchi, T. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 1995, 34, 3808.
13. Friedrich, M.; Himcinschi, C.; Salvan, G.; Anghel, M.; Paraian, A.; Wagner, T.; Kampen, T. U.; Zahn, D. R. T. Thin Solid Films 2004, 455-56, 586.
14. Bulovic, V.; Burrows, P. E.; Forrest, S. R.; Cronin, J. A.; Thompson, M. E. Chem. Phys. 1996, 210, 1.
15. Bulovic, V.; Forrest, S. R. Chem. Phys. 1996, 210, 13.
16. Soos, Z. G.; Hennessy, M. H.; Wen, G. Chem. Phys. 1998, 227, 19.
17. Hoffmann, M.; Schmidt, K.; Fritz, T.; Hasche, T.; Agranovich, V. M.; Leo, K. Chem. Phys. 2000, 258, 73.
18. Hoffmann, M.; Soos, Z. G. Phys. Rev. B 2002, 66, a024305.
19. So, F. F.; Forrest, S. R. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 2649.
20. Scholz, R.; Kobitski, A. Y.; Kampen, T. U.; Schreiber, M.; Zahn, D. R. T.; Jungnickel, G.; Elstner, M.; Sternberg, M.; Frauenheim, T. Phys. Rev. B 2000, 61, 13659.
21. Shen, Z.; Burrows, P. E.; Forrest, S. R.; Ziari, M.; Steier, W. H. Chem. Phys. Lett. 1995, 236, 129.
22. Nollau, A.; Hoffmann, M.; Fritz, T.; Leo, K. Thin Solid Films 2000, 368, 130.
23. Kobitski, A. Y.; Scholz, R.; Vragovic, I.; Wagner, H. P.; Zahn, D. R. T. Phys. Rev. B 2002, 66, a153204.
24. Kobitski, A. Y.; Scholz, R.; Salvan, G.; Kampen, T. U.; Wagner, H. P.; Zahn, D. R. T. Appl. Surf. Sci. 2003, 212, 428.
25. Scholz, R.; Kobitski, A. Y.; Vragovic, I.; Wagner, H. P.; Zahn, D. R. T. Org. Electron. 2004, 5, 99.
26. Scholz, R.; Schreiber, M.; Vragovic, I.; Kobitski, A. Y.; Wagner, H. P.; Zahn, D. R. T. J. Lumin. 2004, 108, 121.
27. Azaroff, L. V.; Kaplow, R.; Kalo, N.; Weiss, R. J.; Wilson, A. J. C.; Young, R. A. X-ray Diffraction; McGraw-Hill: New York, 1974.
28. Bailey, J. J. Chem. Soc. Perkin Trans. 1 1977, 1977, 2047.
29. Nishimura, H.; Yamaoka, T.; Mizuno, K.; Iemura, M.; Matsui, A. J. Phys. Soc. Jpn. 1984, 53, 3999.
30. Pope, M.; Swenberg, C. E. Electronic Processes in Organic Crystals and Polymers.; Oxford Science Publications: Oxford, UK, 1999.