In situ Raman study on single- and double-walled carbon nanotubes as a function of lithium insertion

Small

Volumn 2, Issue 5, 2006, Pages 667-676

  Kim, Yoong Ahm ^a   Kojima, Masahito ^a   Muramatsu, Hiroyuki ^a   Umemoto, Souichiro ^a   Watanabe, Takaaki ^a   Yoshida, Kazuto ^a   Sato, Keigo ^a   Ikeda, Takuya ^a   Hayashi, Takuya ^a   Endo, Morinobu ^a   Terrones, Mauricio ^b   Dresselhaus, Mildred S ^c  

^a SHINSHU UNIVERSITY   (Japan)

^b INSTITUTO POTOSINO DE INVESTIGACIÓN CIENTÍFICA Y TECNOLÓGICA   (Mexico)

^c MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

Batteries; Carbon nanotubes; Charge transfer; Chemical vapor deposition; Raman spectroscopy

Indexed keywords

CHARGE TRANSFER; CHEMICAL BONDS; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; ELECTRIC BATTERIES; LITHIUM; NATURAL FREQUENCIES; RAMAN SPECTROSCOPY;

BREIT-WIGNER-FANO (BWF); BUNDLED NANOTUBE; C-C BONDS; DWNTS;

CARBON NANOTUBES;

CARBON NANOTUBE; LITHIUM; NANOMATERIAL;

ARTICLE; CHEMISTRY; CONFORMATION; ELECTROCHEMISTRY; ELECTROMAGNETIC FIELD; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; RADIATION EXPOSURE; RAMAN SPECTROMETRY; ULTRASTRUCTURE;

ELECTROCHEMISTRY; ELECTROMAGNETIC FIELDS; LITHIUM; MATERIALS TESTING; MOLECULAR CONFORMATION; NANOSTRUCTURES; NANOTECHNOLOGY; NANOTUBES, CARBON; PARTICLE SIZE; SPECTRUM ANALYSIS, RAMAN;

EID: 33645667525     PISSN: 16136810     EISSN: 16136829     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/smll.200500496     Document Type: Article

References (37)

1. T. Zheng, J. Dahn, in Carbon Materials for Advanced Technologies (Ed.: T. D. Burchell), Pergamon, Oxford, 1999, pp. 341-385.
2. M. Endo, C. Kim C, K. Nishimura, T. Fujino, K. Miyashita, Carbon 2000, 38, 183-197.
3. W. Lu, D. D. L. Chung, Carbon 2001, 39, 493-496.
4. S. H. Yoon, C. W. Park, H. J. Yang, Y. Korai, I. Mochida, R. T. K. Baker, N. M. Rodriguez, Carbon 2003, 42, 21-32.
5. G. L. Che, B. B. Lakshmi, E. R. Fisher, C. R. Martin, Nature 1998, 393, 346-349.
6. B. Gao, A. Kleinhammes, X. P. Tang, C. Bower, L. Fleming, Y. Wu, O. Zhou, Chem. Phys. Lett. 1999, 307, 153-157.
7. A. S. Claye, J. E. Fischer, C. B. Huffman, A. G. Rinzler, R. E. Smalley, J. Electrochem. Soc. 2000, 147, 2845-2852.
8. H. Shimoda, B. Gao, X. P. Tang, A. Kleinhammes, L. Fleming, Y. Wu, O. Zhou, Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 015502.
9. F. Leroux, K. Metenier, S. Gautier, E. Frackowiak, S. Bonnamy, F. Beguin, J. Power Sources 1999, 81, 317-322.
10. M. Endo, H. Muramatsu, T. Hayashi, Y. A. Kim, M. Terrones, M. S. Dresselhaus, Nature 2005, 433, 476.
11. A. Oberlin, M. Endo, T. Koyama, J. Cryst. Growth 1976, 32, 335-349.
12. M. Endo, Chem. Tech. 1988, 18, 568-576.
13. M. Inaba, H. Yoshida, Z. Ogumi, J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 2572-2578.
14. M. Endo, C. Kim, T. Karaki, T. Fujino, M. J. Mathews, S. D. M. Brown, M. S. Dresselhaus, Carbon 1998, 36, 1403-1406.
15. A. M. Rao, P. C. Eklund, S. Bandow, A. Thess, R. E. Smalley, Nature 1997, 388, 257-259.
16. G. U. Sumanasekera, J. L. Allen, S. L. Fang, A. L. Loper, A. M. Rao, P. C. Eklund, J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4292-4297.
17. A. Claye, S. Rahman, J. E. Fischer, A. Sirenko, G. U. Sumanasekera, P. C. Eklund, Chem. Phys. Lett. 2001, 333, 16-22.
18. P. Corio, P. S. Santos, V. W. Brar, G. G. Samsonidze, S. G. Chou, M. S. Dresselhaus, Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 675-682.
19. G. Chen, S. Bandow, E. R. Margine, C. Nisoli, A. N. Kolmogorov, V. H. Crespi, R. Gupta, G. U. Sumanasekera, S. Iijima, P. C. Eklund, Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 257403.
20. L. Kavan, R. Rapta, L. Dunsch, Chem. Phys. Lett. 2000, 328, 363-368.
21. L. Kavan, M. Kalbac, M. Zukalova, M. Krause, L. Dunsch, ChemPhysChem 2004, 5, 274-277.
22. M. Kalbac, L. Kavan, M. Zukalova, L. Dunsch, Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 418-426.
23. F. Fong, K. Sacken, J. R. Dann, J. Electrochem. Soc. 1990, 137, 2009-2013.
24. S. C. Tsang, P. J. F. Harris, M. L. H. Green, Nature 1993, 362, 520-522.
25. F. Béguin, F. Chevallier, C. Vix-Guterl, S. Saadallah, V. Bertagna, J. N. Rouzaud, E. Frackowiak, Carbon 2005, 43, 2160-2167.
26. I. Mochida, C. H. Ku, Y. Korai, Carbon 2001, 39, 399-410.
27. T. Suzuki, K. Kaneko, Carbon 1988, 26, 743-745.
28. A. Jorio, R. Saito, J. H. Hafner, C. M. Lieber, M. Hunter, T. McClure, G. Dresselhaus, M. S. Dresselhaus, Phys. Rev. Lett. 2001, 56, 1118-1121.
29. P. Petit, C. Mathis, C. Journet, P. Bernier, Chem. Phys. Lett. 1999, 305, 370-374.
30. M. S. Dresselhaus, P. C. Eklund, Adv. Phys. 2000, 49, 705-814.
31. A. Jorio, A. G. Souza Filho, G. Dresselhaus, M. S. Dresselhaus, A. K. Swan, M. S. Ünlü, B. B. Goldberg, M. A. Pimenta, J. H. Hafner, C. M. Lieber, R. Saito, Phys. Rev. B 2002, 65, 155412.
32. J. O. Besenhard, M. Winter, J. Yang, W. Biberacher, J. Power Sources 1995, 54, 228-231.
33. G. Cheng, C. A. Furtado, S. Bandow, S. Iijima, P. C. Eklund, Phys. Rev. B 2005, 71, 045408.
34. K. Kempa, Phys. Rev. B 2002, 66, 195406.
35. C. Jiang, K. Kempa, J. Zhao, U. Schlecht, U. Kolb, T. Basché, M. Burghard, A. Mews, Phys. Rev. B 2002, 66, 161404.
36. M. Kalbac, L. Kavan, M. Zukalova, L. Dunsch, Carbon 2004, 42, 2915-2920.
37. H. J. Kim, K. K. Jeon, J. G. Heo, C. Kim, K. H. An, S. C. Lim, D. J. Bae, Y. H. Lee, Adv. Mater. 2003, 15, 1757-1760.