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Volumn 22, Issue 1, 2006, Pages 28-36

Erratum: MOSFET hand analysis using BSIM (IEEE Circuits and Devices Magazine (2005))

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EID: 33644690807     PISSN: 87553996     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/MCD.2006.1598077     Document Type: Erratum
Times cited : (4)

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    • The MOSIS Service [Online]. Available: http://mosis.org/test/


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.