Accurate structure determination of Mo6SyI z nanowires from atomic pair distribution function (PDF) analysis

Chemistry of Materials

Volumn 18, Issue 1, 2006, Pages 100-106

  Paglia, Gianluca ^a   Božin, Emil S ^a   Vengust, Damjan ^b   Mihailovic, Dragan ^b,c,d   Billinge, Simon J L ^a  

^a MICHIGAN STATE UNIVERSITY   (United States)

^b JO EF STEFAN INSTITUTE   (Slovenia)

^c UNIVERSITY OF LJUBLJANA   (Slovenia)

^d Mo6 Doo ^*  (Slovenia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

NANOWIRE MODELS; PAIR DISTRIBUTION FUNCTION (PDF); TOTAL SCATTERING;

CRYSTALLINE MATERIALS; CRYSTALLOGRAPHY; MATHEMATICAL MODELS; MOLYBDENUM COMPOUNDS; SCATTERING; STRUCTURAL ANALYSIS; X RAY DIFFRACTION;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 30944454703     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm051833x     Document Type: Article

References (30)

1. Tenne, R.; Margulis, L.; Genut, M.; Hodes, G. Nature 1992, 360, 444-446.
2. Margulis, L.; Salitra, G.; Tenne, R.; Talianker, M. Nature 1993, 365, 113-114.
3. Chopra, N. G.; Luyken, R. J.; Cherrey, K.; Crespi, V. H.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Science 1995, 269, 966-967.
4. Remskar, M.; Mrzel, A.; Skraba, Z.; Jesih, A.; Ceh, M.; Demšar, J.; Stadelmann, P.; Lévy, F.; Mihailovic, D. Science 2001, 292, 479-481.
5. Petkov, V.; Zavalij, P. Y.; Lutta, S.; Whittingham, M.; Parvanov, V.; Shastri, S. Phys. Rev. B 2004, 69, 085410.
6. Kis, A.; Mihailovic, D.; Remskar, M.; Mrzel, A.; Jesih, A.; Piwonski, I. ; Kulik, A. J.; Benoit, W.; Forro, L. Adv. Mater. 2003, 15, 733-735.
7. Vrbanič, D.; Remskar, M.; Jesih, A.; Mrzel, A.; Umek, P.; Ponikar, M.; Jancar, B.; Meden, A.; Novosel, B.; Pejovnik, S.; Venturini, P.; Coleman, J. C.; Mihailovic, D. Nanotechnology 2004, 15, 635-638.
8. Nicolosi, V.; Vrbanič, D.; Mrzel, A.; McCauley, J.; O'Flaherty, S.; Mihailovic, D.; Blau, W. J.; Coleman, J. C. Chem. Phys. Lett. 2005, 401, 13-18.
9. Joly-Pottuz, L.; Dassenoy, F.; Martin, J. M.; D., V.; Mrzel, A.; Mihailovic, D.; Vogel, W.; Montagnac, G. Tribol. Lett. 2005, 18, 385-393.
10. Nicolosi, V.; Vrbanič, D.; Mrzel, A.; McCauley, J.; O'Flaherty, S.; Mihailovic, D.; Blau, W. J.; Coleman, J. C. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 7124-7133.
11. Nemanic, V.; Zumer, M.; Zajec, B.; Pahor, J.; Remskar, M.; Mrzel, A.; Mihailovic, D. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 4573-4575.
12. Dominko, R.; Arcon, D.; Mrzel, A.; Zorko, A.; Cevc, P.; Gabersceck, M.; Remskar, M.; Mihailovic, D. Adv. Mater. 2002, 21, 1531.
13. Chen, J.; Wu, F. Appl. Phys. A-Mater. 2004, 78, 989-994.
14. Meden, A.; Kodre, A.; Padežnick Gomilšek, J.; Arčon, I.; Vilfan, I.; Vrbanič, D.; Mrzel, A.; Mihailovic, D. Nanotechnology 2005, 16, 1578-1583.
15. Seifert, G.; Terrones, H.; Terrones, G.; Jungnickel, M.; Frauenheim, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 146-149.
16. Sergent, M.; Fischer, Q.; Decroux, M.; Perrin, C.; Chevrel, R. J. Solid State Chem. 1977, 22, 87.
17. Billinge, S. J. L.; Kanatzidis, M. G. Chem. Commun. 2004, 749-760.
18. wp value of 30% is still considered quite successful.
19. Petkov, V.; Billinge, S. J. L.; Heising, J.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 11571-11576.
20. Petkov, V.; Trikalitis, P. N.; Božin, E. S.; Billinge, S. J. L.; Vogt, T.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10157.
21. Warren, B. E. X-ray Diffraction; Dover: New York, 1990.
22. Chupas, P. J.; Qiu, X.; Hanson, J. C.; Lee, P. L.; Grey, C. P.; Billinge, S. J. L. J. Appl. Crystallogr. 2003, 36, 1342-1347.
23. Hammersley, A. P.; Svenson, S. O.; Hanfland, M.; Hauserman, D. High-Pressure Res. 1996, 14, 235-248.
24. Egami, T.; Billinge, S. J. L. Underneath the Bragg Peaks - Structural Analysis of Complex Materials; Pergamon: Amsterdam, 2003.
25. Qiu, X.; Thompson, J. W.; Billinge, S. J. L. J. Appl. Crystallogr. 2004, 37, 678.
26. Peterson, P. F.; Proffen, Th.; Jeong, I.-K.; Billinge, S. J. L.; Choi, K.-S.; Kanatzidis, M. G.; Radaelli, P. G. Phys. Rev. B 2001, 63, 165211.
27. Rietveld, H. M. J. Appl. Crystallogr, 1969, 2, 65.
28. Billinge, S. J. L. In Local Structure from Diffraction; Billinge, S. J. L., Thorpe, M. F., Eds.; Plenum Press: New York, 1998; p 137.
29. Petkov, V.; Billinge, S. J. L.; Vogt, T.; Ichimura, A. S.; Dye, J. L. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 075502.
30. Proffen, Th.; Billinge, S. J. L. J. Appl. Crystallogr. 1999, 32, 572-575.