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Volumn 30, Issue 5, 2004, Pages 385-388

The effect of irradiation on the characteristics of MOS transistors

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EID: 3042670091     PISSN: 10637850     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/1.1760863     Document Type: Article
Times cited : (1)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.