-
1
-
-
0025342635
-
-
Denk, W.; Strickler, J. H.; Webb, W. W. Science 1990, 248, 73.
-
(1990)
Science
, vol.248
, pp. 73
-
-
Denk, W.1
Strickler, J.H.2
Webb, W.W.3
-
2
-
-
0033817387
-
-
Ren, Y.; Fang, Q.; Yu, W.-T.; Lei, H.; Tian, Y.-P.; Jiang, M.-H.; Yang, Q.-C.; Mak, T. C. W. J. Mater. Chem. 2000, 10, 2025.
-
(2000)
J. Mater. Chem.
, vol.10
, pp. 2025
-
-
Ren, Y.1
Fang, Q.2
Yu, W.-T.3
Lei, H.4
Tian, Y.-P.5
Jiang, M.-H.6
Yang, Q.-C.7
Mak, T.C.W.8
-
5
-
-
0142166905
-
-
Liu, Z.-Q.; Fang, Q.; Wang, D.; Cao, D.-X.; Xue, G.; Yu, W.-T.; Lei, H. Chem.-Eur. J. 2003, 9, 5074.
-
(2003)
Chem.-Eur. J.
, vol.9
, pp. 5074
-
-
Liu, Z.-Q.1
Fang, Q.2
Wang, D.3
Cao, D.-X.4
Xue, G.5
Yu, W.-T.6
Lei, H.7
-
7
-
-
0033662482
-
-
Yuan, Z.; Collings, J. C.; Taylor, N. J.; Marder, T. B.; Jardin, C.; Hale, J. F. J. Solid State Chem. 2000, 154, 5.
-
(2000)
J. Solid State Chem.
, vol.154
, pp. 5
-
-
Yuan, Z.1
Collings, J.C.2
Taylor, N.J.3
Marder, T.B.4
Jardin, C.5
Hale, J.F.6
-
8
-
-
0034847916
-
-
Kannan, R.; He, G. S.; Yuan, L. X.; Xu, F.; Prasad, P. N.; Dombroskie, A. G.; Reinhardt, B. A.; Baur, J. W.; Vaia, R. A.; Tan, L.-S. Chem. Mater. 2001, 13, 1896.
-
(2001)
Chem. Mater.
, vol.13
, pp. 1896
-
-
Kannan, R.1
He, G.S.2
Yuan, L.X.3
Xu, F.4
Prasad, P.N.5
Dombroskie, A.G.6
Reinhardt, B.A.7
Baur, J.W.8
Vaia, R.A.9
Tan, L.-S.10
-
9
-
-
33749138073
-
-
in Chinese
-
Cao, D.-X.; Fang, Q.; Xue, G.; Xu, G.-B.; Yu, W.-T.; Liu, Z.-Q. Acta Chim. Sinica 2004, 62, 225 (in Chinese).
-
(2004)
Acta Chim. Sinica
, vol.62
, pp. 225
-
-
Cao, D.-X.1
Fang, Q.2
Xue, G.3
Xu, G.-B.4
Yu, W.-T.5
Liu, Z.-Q.6
-
10
-
-
0141704726
-
-
Gaussian, Inc., Pittsburgh PA
-
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A.; Vreven, J. T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision A. 1, Gaussian, Inc., Pittsburgh PA, 2003.
-
(2003)
Gaussian 03, Revision A. 1
-
-
Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Scuseria, G.E.4
Robb, M.A.5
Cheeseman, J.R.6
Montgomery, J.A.7
Vreven, J.T.8
Kudin, K.N.9
Burant, J.C.10
Millam, J.M.11
Iyengar, S.S.12
Tomasi, J.13
Barone, V.14
Mennucci, B.15
Cossi, M.16
Scalmani, G.17
Rega, N.18
Petersson, G.A.19
Nakatsuji, H.20
Hada, M.21
Ehara, M.22
Toyota, K.23
Fukuda, R.24
Hasegawa, J.25
Ishida, M.26
Nakajima, T.27
Honda, Y.28
Kitao, O.29
Nakai, H.30
Klene, M.31
Li, X.32
Knox, J.E.33
Hratchian, H.P.34
Cross, J.B.35
Adamo, C.36
Jaramillo, J.37
Gomperts, R.38
Stratmann, R.E.39
Yazyev, O.40
Austin, A.J.41
Cammi, R.42
Pomelli, C.43
Ochterski, J.W.44
Ayala, P.Y.45
Morokuma, K.46
Voth, G.A.47
Salvador, P.48
Dannenberg, J.J.49
Zakrzewski, V.G.50
Dapprich, S.51
Daniels, A.D.52
Strain, M.C.53
Farkas, O.54
Malick, D.K.55
Rabuck, A.D.56
Raghavachari, K.57
Foresman, J.B.58
Ortiz, J.V.59
Cui, Q.60
Baboul, A.G.61
Clifford, S.62
Cioslowski, J.63
Stefanov, B.B.64
Liu, G.65
Liashenko, A.66
Piskorz, P.67
Komaromi, I.68
Martin, R.L.69
Fox, D.J.70
Keith, T.71
Al-Laham, M.A.72
Peng, C.Y.73
Nanayakkara, A.74
Challacombe, M.75
Gill, P.M.W.76
Johnson, B.77
Chen, W.78
Wong, M.W.79
Gonzalez, C.80
Pople, J.A.81
more..
-
11
-
-
0345491105
-
-
Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785.
-
(1988)
Phys. Rev. B
, vol.37
, pp. 785
-
-
Lee, C.1
Yang, W.2
Parr, R.G.3
-
12
-
-
0344438338
-
-
Gaussian, Inc., Copyright Semichem
-
Gaussian, Inc. Gaussview 3. 0, Copyright Semichem, 2000-2003.
-
(2000)
Gaussview 3. 0
-
-
-
15
-
-
0001147955
-
-
Albota, M. A.; Xu, C.; Webb, W. W. Appl. Opt. 1998, 37, 7352.
-
(1998)
Appl. Opt.
, vol.37
, pp. 7352
-
-
Albota, M.A.1
Xu, C.2
Webb, W.W.3
-
17
-
-
0037196464
-
-
Lei, H.; Huang, Z. L.; Wang, H. Z.; Tang, X. J.; Wu, L. Z.; Zhou, G. Y.; Wang, D.; Tian, T. B. Chem. Phy. Lett. 2002, 352, 240.
-
(2002)
Chem. Phy. Lett.
, vol.352
, pp. 240
-
-
Lei, H.1
Huang, Z.L.2
Wang, H.Z.3
Tang, X.J.4
Wu, L.Z.5
Zhou, G.Y.6
Wang, D.7
Tian, T.B.8
|