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Volumn 8, Issue 9-10 SPEC. ISS., 2005, Pages 1461-1468

A new strategy to model the Si(100) surface

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AM1; Cluster; DFT; ONIOM; Silicon

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EID: 26944433052     PISSN: 16310748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.crci.2004.10.033     Document Type: Article
Times cited : (10)

References (33)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.