Characterisation plasma-polymerfilms by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS);Charakterisierung von Plasma-Polymerfilmen mittels Flugzeit- Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Vakuum in Forschung und Praxis

Volumn 17, Issue 2, 2005, Pages 73-79

  Von Gradowski, M ^a   Wahl, M ^b,c   Jacoby, B ^a   Hilgers, H ^c   Kopnarski, M ^b  

^a IBM   (Germany)

^b Rheinland Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern Landau   (Germany)

^c Anwendung Oberflächensensitiver Analyseverfahren in der Industriellen Praxis ^*

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ANALYSIS TOOLS; INDUSTRIAL BRANCHES; PLASMA-POLYMER FILMS; TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (TOF-SIMS);

INFORMATION ANALYSIS; MATHEMATICAL MODELS; PLASMAS; POLYMERIC MEMBRANES; SURFACE PROPERTIES; WETTING;

MASS SPECTROMETRY;

EID: 26144481272     PISSN: 0947076X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/vipr.200500248     Document Type: Article

References (6)

1. J. C. Vickerman and D. Briggs: "ToF-SIMS Surface Analysis by Mass Spectrometry", IM Publications and SurfaceSpectra Ltd., Chichester 2001
2. H. Düsterhöft, M. Riedel, B.-K. Düsterhöft: "Einführung in die Sekundär-ionenmassen-spektrometrie -SIMS- ", Teubner Studienbü cher, Leipzig 1999.
3. A. M. Belu, D. J. Graham, D. G. Castner, Biomaterials 24 (2003) 3635-3653.
4. B. M. Wise, N. B. Gallagher, J. Proc. Cont. 6 (1996) 329-348.
5. R. Henrion und G. Henrion: "Multivariate Datenanalyse", Springer Verlag, Berlin 1995
6. M. von Gradowski, M. Wahl, R. Förch, H. Hilgers, Surf. Interface Anal. 36 (2004) 1114-1118.