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Volumn 31, Issue 10, 2005, Pages

Precision half-life measurement of 62Ga

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EID: 25444481330     PISSN: 09543899     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0954-3899/31/10/094     Document Type: Conference Paper
Times cited : (16)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.