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Volumn 69, Issue 1, 2004, Pages 155021-155027

High-precision measurement of the half-life of 62Ga

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EID: 13244282106     PISSN: 05562813     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevC.69.015502     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.