Study of the ionic fragmentation of shallow- And core-excited fluorocarbonylsulfenyl chloride, FC(O)SCl: Observation of a new three-body dissociation mechanism

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 108, Issue 18, 2004, Pages 3938-3946

  Erben, Mauricio F ^a   Romano, Rosana M ^a   Della Védova, Carlos O ^a  

^a UNIVERSIDAD NACIONAL DE LA PLATA   (Argentina)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DISSOCIATION; IONIZATION; MACROMOLECULES; MONOCHROMATORS; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SPECTROMETERS; SULFUR COMPOUNDS;

COINCIDENCE DETECTION TECHNIQUE; DECAY MECHANISMS; ELECTRONIC TRANSITIONS; TWO BODY MECHANISM;

FLUORINE COMPOUNDS;

EID: 2542455807     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp038058y     Document Type: Article

References (38)

1. Stryer, L. Biochemistry; W. H. Freeman: New York, 1995.
2. (a) Gobatto, K. I.; Della Védova, C. O.; Mack, H.-G.; Oberhammer, H. Inorg. Chem. 1996, 35, 6152.
3. (b) Erben, M. F.; Delia Védova, C. O.; Romano, R. M.; Boese, R.; Oberhammer, H.; Willner, H.; Sala, O. Inorg. Chem. 2002, 41, 1064.
4. (c)Romano, R. M.; Delia Védova, C. O.; Downs, A. J.; Greene, T. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5794.
5. (a) Mack, H.-G.; Oberhammer, H.; Della Védova, C. O. J. Phys. Chem. 1991, 95, 4238.
6. (b) Romano, R. M.; Vedova Della, C. O.; Boese, R.; Hildebrandt, P. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 2551.
7. (a) Hocking, W. H.; Winnewisser, G. Z. Naturforsch., A 1976, 31, 422.
8. (b) Shen, Q.; Hagen, K. J. Mol. Struct. 1985, 128, 41.
9. (c)Willner, H. Z. Naturforsch., B: Anorg. Chem., Org. Chem. 1984, 39, 314.
10. Erben, M. F.; Delia Védova, C. O. Inorg. Chem. 2002, 41, 3740.
11. Eland, J. H. D.; Wort, F. S.; Royds, R. N. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1986, 41, 297.
12. Lira, A. C.; Rodrigues, A. R. D.; Rosa, A.; Gonçalves da Silva, C. E. T.; Pardine, C.; Scorzato, C.; Wisnivesky, D.; Rafael, F.; Franco, G. S.; Tosin, G.; Lin, L.; Jahnel, L.; Ferreira, M. J.; Tavares, P. F.; Farias, R. H. A.; Neuenschwander, R. T.; Proc. EPAC, Stockholm, 1998, and references therein.
13. de Fonseca, P. T.; Pacheco, J. G.; Samogin, E.; de Castro, A. R. B. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63 1256.
14. de Castro, A. R. B. Conceptual Project of a Soft X-ray Beamline for High-Resolution Spectroscopy; LNLS Technical Memo CT-09/91; 1991.
15. Naves de Brito, A.; Feifel, R.; Mocellin, A.; Machado, A. B.; Sundin, S.; Hjelte, I.; Sorensen, S. L.; Björneholm, O. Chem. Phys. Lett. 1999, 309, 377.
16. Haas, A.; Reinke, H. Angew. Chem. 1967, 79, 687.
17. Della Védova, C. O.; Cutín, E. H.; Jubert, A. H.; Varetti, E. L.; Aymonino, P. J. Can. J. Spectrosc. 1984, 29, 130.
18. Erben, M. F., Romano, R. M.; Delia Védova, C. O. Beam Line Project D05A-TGM-1504; LNLS; 2003.
19. Svensson, S.; Naves de Brito, A.; Keane, M. P.; Correia, N.; Karlsson, L. Phys. Rev. A 1991, 43, 6441.
20. (a) Klapstein, D. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1987, 42, 149.
21. (b) Klapstein, D.; O'Brien, R. T. Can. J. Chem. 1987, 65, 683.
22. Ishii, I.; Hitchcook, A. P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1988, 46, 55.
23. Robin, M. B.; Ishii, I.; McLaren R.; Hitchcock, A. P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1988, 47, 53.
24. Eberhardt, W.; Sham, T. K.; Carr, R.; Krummacher, S.; Strongin, M.; Weng S. L.; Wesner, D. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 1038.
25. (a) Murphy R.; Eberhardt, W. J. Chem. Phys. 1988, 89, 4054.
26. (b) Müller-Dethlefs, K.; Sander, M.; Leslie, M.; Chewter, L. A.; Schlag, E. W. J. Phys. Chem. 1984, 88, 6098.
27. (c)Suzuki I. H.; Saito, N. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1997, 163, 229.
28. (d)Thomas, M. K.; Hatherly, P. A.; Codling, K.; Stankiewicz, M.; Rius, J.; Karawajczyk A.; Roper. M. J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 1998, 31, 3407.
29. Erman, P.; Karawajczyk, A.; Rachlew, E.; Stankiewicz M.; Franzen. K. Y. J. Chem. Phys. 1997, 107, 10827.
30. Morin, P.; Simon, M.; Miron, C.; Leclercq, N.; Hansen, D. L. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 93, 49.
31. 3OC(O)SCl show no important atomization processes.
32. Della Védova, C. O.; Furlong, J. J. P.; Mack, H.-G. J. Mol. Struct. 1994, 317, 165.
33. Eland, J. H. D. Mol. Phys. 1987, 61, 725.
34. Eland, J. H. D. Acc. Chem. Res. 1989, 22, 281.
35. Simon, M.; Lebrun, T.; Martins, R.; de Souza, G. G. B.; Nenner, I.; Lavolee, M.; Morin, P. J. Phys. Chem. 1993, 97, 5228.
36. Santos, A. C. F.; Lucas, C. A.; de Souza, G. G. B. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2001, 114-116, 115.
37. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A., Jr.; Stratmann, R. E.; Burant, J. C.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Gonzalez, C.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian 98, revision A.7; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1998.
38. Ibuki, T.; Okada, K.; Saito, K.; Gejo, T. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2000, 107, 39.