Band gap tuning in new strontium seleno-stannates

Chemistry of Materials

Volumn 16, Issue 11, 2004, Pages 2215-2221

  Assoud, Abdeljalil ^a   Soheilnia, Navid ^a   Kleinke, Holger ^a  

^a UNIVERSITY OF WATERLOO   (Canada)

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COOLING; CRYSTAL SYMMETRY; CRYSTALLIZATION; ENERGY GAP; REACTION KINETICS; STOICHIOMETRY;

ISOSTRUCTURAL COMPOUNDS; SELENO-STANNATES;

STRONTIUM COMPOUNDS;

INDIUM 111; MAGNESIUM DERIVATIVE; SELENIUM DERIVATIVE; STRONTIUM; TIN DERIVATIVE;

ARTICLE; CHEMICAL ANALYSIS; COOLING; CRYSTALLIZATION; NONLINEAR SYSTEM; SEMICONDUCTOR; STOICHIOMETRY;

EID: 2542420884     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm0499242     Document Type: Article

References (61)

1. Kanatzidis, M. G.; McCarthy, T. J.; Tanzer, T. A.; Chen, L.-H.; Iordanidis, L.; Hogan, T.; Kannewurf, C. R.; Uher, C.; Chen, B. Chem. Mater. 1996, 8, 1465-1474.
2. Chung, D.-Y.; Hogan, T.; Brazis, P.; Rocci-Lane, M.; Kannewurf, C.; Bastea, M.; Uher, C.; Kanatzidis, M. G. Science (Washington, D.C.) 2000, 287, 1024-1027.
3. Hsu, K.-F.; Chung, D.-Y.; Lal, S.; Mrotzek, A.; Kyratsi, T.; Hogan, T.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2410-2411.
4. Kyratsi, T.; Dyck, J. S.; Chen, W.; Chung, D.-Y.; Uher, C.; Paraskevopoulos, K. M.; Kanatzidis, M. G. J. Appl. Phys. 2002, 92, 965-975.
5. Chung, D.-Y.; Jobic, S.; Hogan, T.; Kannewurf, C. R.; Brec, R.; Rouxel, J.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 2505-2515.
6. Venkatasubramanian, R.; Slivola, E.; Colpitts, T.; O'Quinn, B. Nature (London) 2001, 413, 597-602.
7. Chen, J. H.; Dorhout, P. K. J. Alloys Compd. 1997, 249, 199-205.
8. Choi, K.-S.; Chung, D.-Y.; Mrotzek, A.; Brazis, P.; Kannewurf, C. R.; Uher, C.; Chen, W.; Hogan, T.; Kanatzidis, M. G. Chem. Mater. 2001, 13, 756-764.
9. Shelimova, L. E.; Karpinskii, O. G.; Konstantinov, P. P.; Kretova, M. A. ; Avilov, E. S.; Zemskov, V. S. Inorg. Mater. 2001, 37, 342-348.
10. Kyratsi, T.; Dyck, J. S.; Chen, W.; Chung, D.-Y.; Uher, C.; Paraskevopoulos, K. M.; Kanatzidis, M. G. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2002, 691, 419-424.
11. Dhar, S. N.; Desai, C. F. Philos. Magn. Lett. 2002, 82, 581-587.
12. Kuznetsov, A. V.; Letyuchenko, S. D.; Motskin, V. V. J. Thermoelectr. 2002, 43-48.
13. Thonhauser, T.; Scheidemantel, T. J.; Sofo, J. O.; Badding, J. V.; Mahan, G. D. Phys. Rev. 2003, B68, 085201/085201-085201/085208.
14. Dashjav, E.; Szczepenowska, A.; Kleinke, H. J. Mater. Chem. 2002, 12, 345-349.
15. Soheilnia, N.; Dashjav, E.; Kleinke, H. Can. J. Chem. 2003, 81, 1157-1163.
16. Assoud, A.; Soheilnia, N.; Kleinke, H. J. Solid State Chem., in press.
17. Mrotzek, A.; Iordanidis, L.; Kanatzidis, M. G. Inorg. Chem. 2001, 40, 6204-6211.
18. Mrotzek, A.; Hogan, T.; Kanatzidis, M. G. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2002, 691, 101-112.
19. Blake, N. P.; Mollnitz, L.; Kresse, G.; Metiu, H. J. Chem. Phys. 1999, 111, 3133-3144.
20. Chen, F.; Stokes, K. L.; Nolas, G. S. J. Phys. Chem. Solids 2002, 63, 827-832.
21. Bentien, A.; Iversen, B. B.; Bryan, J. D.; Stucky, G. D.; Palmqvist, A. E. C.; Schultz, A. J.; Henning, R. W. J. Appl. Phys. 2002, 91, 5694-5699.
22. Kitagawa, J.; Sasakawa, T.; Suemitsu, T.; Takabatake, T.; Ishikawa, M. J. Phys. Soc. Jpn. 2002, 71, 1222-1225.
23. Rowe, D. M. CRC Handbook of Thermoelectrics; CRC Press: Boca Raton, FL, 1995.
24. DiSalvo, F. J. Science (Washington, D.C.) 1999, 285, 703-706.
25. Sofo, J. O.; Mahan, G. D. Phys. Rev. 1994, B49, 4565-4570.
26. Villars, P. Pearson's Handbook; Desk Edition; American Society for Metals: Materials Park, OH, 1997.
27. Pocha, R.; Tampier, M.; Hofmann, R. D.; Mosel, B. D.; Pöttgen, R.; Johrendt, D. Z. Anorg. Allg. Chem. 2003, 629, 1379-1384.
28. Evenson, C. R. I.; Dorhout, P. K. Z. Anorg. Allg. Chem. 2001, 627, 2178-2182.
29. Klee, W.; Schäfer, W. Rev. Chim. Miner. 1979, 16, 465-472.
30. Kleinke, H. In Abstracts of Papers, 226th National Meeting of the American Chemical Society, New York, NY, Sept 7-11, 2003; American Chemical Society: Washington, DC, 2003; INOR-245.
31. SAINT, version 4; Siemens Analytical X-ray Instruments Inc.: Madison, WI, 1995.
32. Sheldrick, G. M. SHELXTL, version 5.12; Siemens Analytical X-Ray Systems: Madison, WI, 1995.
33. Flack, H. D. Acta Crystallogr. 1983, A39, 876-881.
34. Teske, C. L. Z. Anorg. Allg. Chem. 1980, 460, 163-168.
35. Kleinke, H. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 853-860.
36. Kleinke, H. Can. J. Chem. 2001, 79, 1338-1343.
37. Kleinke, H. J. Solid State Chem. 2001, 159, 134-138.
38. Kleinke, H. Inorg. Chem. 2001, 40, 95-100.
39. Elder, I.; Lee, C.-S.; Kleinke, H. Inorg. Chem. 2002, 41, 538-545.
40. Bobev, S.; Kleinke, H. Chem. Mater. 2003, 15, 3523-3529.
41. Andersen, O. K. Phys. Rev. 1975, B12, 3060-3083.
42. Skriver, H. L. The LMTO Method; Springer: Berlin, Germany, 1984.
43. Hedin, L.; Lundqvist, B. I. J. Phys. 1971, 4C, 2064-2083.
44. Blöchl, P. E.; Jepsen, O.; Andersen, O. K. Phys. Rev. 1994, B49, 16223-16233.
45. Böttcher, P. Z. Anorg. Allg. Chem. 1977, 432, 167-172.
46. Böttcher, P. Z. Anorg. Allg. Chem. 1980, 461, 13-21.
47. Klepp, K. O. Z. Naturforsch. 1992, 47B, 411-417.
48. Voutsas, G. P.; Papazoglou, A. G.; Rentzeperis, P. J. Z. Kristallogr. 1985, 171, 261-268.
49. Wiedemeier, H.; von Schnering, H. G. Z. Kristallogr. 1978, 148, 295-303.
50. Klepp, K. O. Z. Naturforsch. 1992, 47B, 197-200.
51. Sheldrick, W. S.; Braunbeck, H. G. Z. Naturforsch. 1990, 45B, 1643-1646.
52. Dronskowski, R.; Blöchl, P. E. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8617-8624.
53. Hughbanks, T.; Hoffmann, R. J. Am. Chem. Soc. 1983, 105, 3528-3537.
54. Yanagi, H.; Inoue, S.-I.; Ueda, K.; Kawazoe, H. J. Appl. Phys. 2000, 88, 4159-4163.
55. Tampier, M.; Johrendt, D. Z. Anorg. Allg. Chem. 2001, 627, 312-320.
56. Mulliken, R. S. J. Chem. Phys. 1955, 23, 2343-2346.
57. Lee, C.-S.; Kleinke, H. Eur. J. Inorg. Chem. 2002, 591-596.
58. Dashjav, E.; Kleinke, H. J. Solid State Chem. 2003, 176, 329-337.
59. Zimmermann, C.; Dehnen, S. Z. Anorg. Allg. Chem. 1999, 625, 1963-1965.
60. Klepp, K. O.; Fabian, F. Eur. Crystallogr. Meet. 1994, 15, 626-626.
61. Range, K.-J. Z. Naturforsch. 1996, 51B, 1363-1364.