An emission study of 147-nm ultraviolet lights from discharge cells in the plasma display panel

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 47, Issue 2, 2005, Pages 242-248

  Uhm, Han S ^a   Choi, Eun H ^b   Jung, Kyu B ^b  

^a Ajou University   (South Korea)

^b Kwangwoon University   (South Korea)

Author keywords

147 nm wavelength; Microdischarge; PDP cells; VUV emission

Indexed keywords

EID: 24644470521     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (19)

1. H. S. Uhm, J. Korean Phys. Soc. 38, L295 (2001).
2. H. S. Uhm, S. J. Jung and Hyoung S. Kim, J. Korean Phys. Soc. 42, S989 (2003).
3. H. S. Uhm, J. Korean Phy. Soc. 42, S775 (2003).
4. H. G. Slottow and W. D. Petty, IEEE Trans. Electron Devices ED-2, 650 (1970).
5. L. F. Weber, IEEE Trans. Electron Devices ED-24, 864 (1987).
6. G. S. Cho, Y. G. Kim, Y. S. Kim, D. G. Joh and E. H. Choi, Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1178 (1998).
7. H. C. Kim, S. S. Yang and J. K. Lee, J. Appl. Phys. 93, 9516 (2003).
8. J. H. Kim, J. H. Lee, K. W. Whang and Y. W. Choi, J. Appl. Phys. 89, 2539 (2001).
9. Y. Noguchi, A. Matsuoka, K. Uchino and K. Muraoka, J. Appl. Phys. 91, 613 (2002).
10. J. C. Ahn, Y. Shintani, K. Tachibana, T. Sakai and N. Kosugi, Appl. Phys. Lett. 82, 3844 (2003).
11. H. S. Uhm, K. W. Whang, E. H. Choi and S. S. Kim, Phys. Plasmas 9, 706 (2002).
12. H. S. Uhm, E. H. Choi and S. B. Kim, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 4696 (2002);
13. H. S. Uhm, E. H. Choi and G. Cho, Jpn. J. Appl. Phys. 40, 3429 (2001).
14. G. Oversluizen, M. Klein, D. Zwart, S. Heusden and T. Dekker, J. Appl. Phys. 91, 2403 (2002).
15. M. F. Gillies and G. Oversluizen, J. Appl. Phys. 91, 6315 (2002).
16. J. H. Seo, H. S. Jeong, J. Y. Lee, C. K. Yoon, J. K. Kim and K. W. Whang, J. Appl. Phys. 88, 1257 (2000).
17. W. G. Lee, M. Shao, J. R. Gottschalk, M. Brown and A. D. Compaan, J. Appl. Phys. 92, 682 (2002).
18. J. Galy, K. Aouame, A. Birot, H. Brunner and P. Millet, J. Phys. B 26, 447 (1993).
19. Harris Benson, Univeristy Physics (Wiley, New York, 1995), Chap. 42.