Magnetic anisotropy of MnAs-films on GaAs(0 0 1) studied with ferromagnetic resonance

Journal of Magnetism and Magnetic Materials

Volumn 277, Issue 1-2, 2004, Pages 159-164

  Lindner, J ^a,c   Tolinski T ^a,d   Lenz, K ^a   Kosubek, E ^a   Wende, H ^a   Baberschke, K ^a   Ney, A ^b   Hesjedal, T ^b   Pampuch, C ^b   Koch, R ^b   Daweritz L ^b   Ploog, K H ^b  

^a FREIE UNIVERSITÄT BERLIN   (Germany)

^b PAUL DRUDE INSTITUT FÜR FESTKÖRPERELEKTRONIK   (Germany)

^c UNIVERSITY OF DUISBURG ESSEN   (Germany)

^d INSTITUTE OF MOLECULAR PHYSICS   (Poland)

Author keywords

Ferromagnetic resonance; Manganese arsenide; Thin film magnetism

Indexed keywords

CRYSTAL ORIENTATION; CRYSTALLIZATION; FERROMAGNETIC RESONANCE; INTERFACES (MATERIALS); MAGNETIC ANISOTROPY; PHASE TRANSITIONS; THIN FILMS;

DEMAGNETIZING FIELDS; SEMICONDUCTOR SUBSTRATES; THIN FILM MAGNETISM; UNIT CELLS;

SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE;

EID: 2442516062     PISSN: 03048853     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jmmm.2003.10.021     Document Type: Article

References (24)

1. Tanaka M., Harbison J.P., Park M.C., Park Y.S., Shin T., Rothberg G.M. J. Appl. Phys. 76:1994;6278.
2. Schippan F., Trampert A., Däweritz L., Ploog K.H. J. Vac. Sci. Technol. B. 17:1999;1716.
3. Das A.K., Pampuch C., Ney A., Hesjedal T., Däweritz L., Koch R., Ploog K.H. Phys. Rev. Lett. 91:2003;087203.
4. Akeura K., Tanaka M., Ueki M., Nishinaga T. Appl. Phys. Lett. 67:1995;3349.
5. F. Bensch. G. Garreau, R. Moosbühler, G. Bayreuther, E. Beaurepaire, J. Appl. Phys. 89 (2001) 7133 and references therein.
6. Guillaud C. J. Phys. Rad. 12:1951;223.
7. Willis B.T.M., Rooksby H.P. Proc. Phys. Soc. (London) B. 67:1954;290.
8. Bacon G.E., Street R. Nature. 175:1955;518.
9. Menyuk N., Kafalas J.A., Dwight K., Goodenough J.B. Phys. Rev. 177:1969;942.
10. Däweritz L., Schippan F., Kästner M., Jenichen B., Kaganer V.M., Ploog K.H., Dennis B., Neumann K.U., Ziebeck K.R.A. IOP Conf. Ser. 170:2002;269 Däweritz L., Kästner M., Hesjedal T., Plake T., Jenichen B., Ploog K.H. J. Crystal Growth. 251:2003;297.
11. Däweritz L., Schippan F., Kästner M., Jenichen B., Kaganer V.M., Ploog K.H., Dennis B., Neumann K.U., Ziebeck K.R.A. IOP Conf. Ser. 170:2002;269 Däweritz L., Kästner M., Hesjedal T., Plake T., Jenichen B., Ploog K.H. J. Crystal Growth. 251:2003;297.
12. Kaganer V.M., Jenichen B., Schippan F., Braun W., Däweritz L., H. Ploog K. Phys. Rev. Lett. 85:2000;341 Kaganer V.M., Jenichen B., Schippan F., Braun W., Däweritz L., Ploog K.H. Phys. Rev. B. 66:2002;045305.
13. Kaganer V.M., Jenichen B., Schippan F., Braun W., Däweritz L., H. Ploog K. Phys. Rev. Lett. 85:2000;341 Kaganer V.M., Jenichen B., Schippan F., Braun W., Däweritz L., Ploog K.H. Phys. Rev. B. 66:2002;045305.
14. Plake T., Ramsteiner M., Kaganer V.M., Jenichen B., Kästner M., Däweritz L., Ploog K.H. Appl. Phys. Lett. 80:2002;2523.
15. Plake T., Hesjedal T., Mohanty J., Kästner M., Däweritz L., Ploog K.H. Appl. Phys. Lett. 82:2003;2308.
16. Lindner J., Baberschke K. J. Phys.: Condens. Matter. 15:2003;S465 Lindner J., Baberschke K. J. Phys.: Condens. Matter. 15:2003;R193.
17. Lindner J., Baberschke K. J. Phys.: Condens. Matter. 15:2003;S465 Lindner J., Baberschke K. J. Phys.: Condens. Matter. 15:2003;R193.
18. Heinrich B., Cochran J.F. Adv. Phys. 42:1993;523.
19. Kästner M., Schippan F., Schützendübe P., Däweritz L., Ploog K. J. Vac. Sci. Technol. B. 18:2000;2052.
20. Schippan F., Behme G., Däweritz L., Ploog K.H., Dennis B., Neumann K.-U., Ziebeck K.R.A. J. Appl. Phys. 88:2000;2766.
21. De Blois R.W., Rodbell D.S. Phys. Rev. 130:1963;1347.
22. Smit J., Beljers H.G. Phillips Res. Rep. 10:1955;113.
23. Aharoni A. J. Appl. Phys. 83:1998;3432.
24. Kästner M., Herrmann C., Däweritz L., Ploog K.H. J. Appl. Phys. 92:2002;5711.