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Volumn 118, Issue , 2004, Pages 231-236
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Étude d'un empilement multicouche périodique Mo/Si par spectroscopie d'émission X et par réflectométrie X
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EID: 24344441065
PISSN: 11554339
EISSN: 17647177
Source Type: Conference Proceeding
DOI: 10.1051/jp4:2004118027 Document Type: Article |
Times cited : (5)
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References (6)
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