Photoelectron spectroscopy of the contact between the cathode and the active layers in plastic solar cells: The role of LiF

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers

Volumn 44, Issue 6 A, 2005, Pages 3695-3701

  Jonsson S K M ^a,b   Carlegrim, E ^a   Zhang, F ^a   Salaneck, W R ^a   Fahlman, M ^a  

^a LINKÖPING UNIVERSITY   (Sweden)

^b JACOBS UNIVERSITY BREMEN   (Germany)

Author keywords

Al cathode contact; Interfacial LiF layer; Low band gap polyfluorene; PCBM; Photoelectron spectroscopy; Photovoltaics

Indexed keywords

CATHODES; MULTILAYERS; POLYMER BLENDS; SOLAR CELLS;

AL-CATHOD CONTACTS; INTERFACIAL LIF LAYERS; LOW BAND GAP POLYFLUORENE; PCBM; PHOTOVOLTAICS; PRISTINE FILMS;

PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 23944515242     PISSN: 00214922     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JJAP.44.3695     Document Type: Article

References (39)

1. C. K. Chiang, C. R. Fincher, Y. W. Park, A. J. Heeger, H. Shirakawa, E. J. Louis, S. C. Gua and A. G. MacDiarmid: Phys. Rev. Lett. 39 (1977) 1098.
2. M. Fahlman and W. R. Salaneck: Surf. Sci. 500 (2002) 904.
3. J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, P. L. Burn and A. B. Holmes: Nature 347 (1990) 539.
4. C. W. Tang and S. A. Van Slyke: Appl. Phys. Lett. 51 (1987) 913.
5. F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar and P. Srivastava: Science 265 (1994) 684.
6. J. J. M. Halls, C. A. Walsh, N. C. Greenham, E. A. Marseglia, R. H. Friend, S. C. Moratti and A. B. Holmes: Nature 376 (1995) 498.
7. C. J. Brabec, N. S. Sacriciftci and J. C. Hummelen: Adv. Funct. Mater. 11 (2001) 15.
8. O. Inganäs, M. Svensson, F. Zhang, A. Gadisa, N. K. Persson, X. Wang and M. R. Andersson: Appl. Phys. A 79 (2004) 31.
9. N. S. Sariciftci, L. Smilowitz, A. J. Heeger and F. Wudl: Science 258 (1992) 1474.
10. N. S. Sariciftci, D. Braun, C. Zhang, V. Srdanov, A. J. Heeger, G. Stucky and F. Wudl: Appl. Phys. Lett. 62 (1993) 585.
11. J. J. M. Halls and R. H. Friend: Synth. Met. 85 (1997) 1307.
12. B. Kraabel, J. C. Hummelen, D. Vacar, D. Moses, N. S. Sariciftci, A. J. Heeger and F. Wudl: J. Chem. Phys. 104 (1996) 4267.
13. L. Smilowitz, N. S. Sariciftci, R. Wu, C. Gettinger, A. J. Heeger and F. Wudl: Phys. Rev. B 47 (1993) 13835.
14. G. Yu, J. Gao, J. C. Hummelen, F. Wudl and A. J. Heeger: Science 270 (1995) 1789.
15. G. Yu and A. J. Heeger: J. Appl. Phys. 78 (1995) 4510.
16. J. C. Hummelen, B. W. Knight, F. LePeq, F. Wudl, J. Yao and C. L. Wilkins: J. Org. Chem. 60 (1995) 532.
17. S. Alem, R. Bettignies, J. M. Nunzi and M. Cariou: Appl. Phys. Lett. 84 (2004) 2178.
18. M. Svensson, F. Zhang, S. C. Veenstra, W. J. H. Vertices, J. C. Hummelen, J. M. Kroon, O. Inganäs and M. R. Andersson: Adv. Mater. 15 (2003) 988.
19. T. Yohannes, F. Zhang, M. Svensson, J. C. Hummelen, M. R. Andersson and O. Inganäs: Thin Solid Films 449 (2004) 152.
20. C. J. Brabec, S. E. Shaheen, C. Winder, N. S. Sacriciftci and P. Denk: Appl. Phys. Lett. 80 (2002) 1288.
21. T. M. Brown, R. H. Friend, I. S. Millard, D. J. Lacey, J. H. Burroughes and F. Cacialli: Appl. Phys. Lett. 77 (2000) 3096.
22. T. M. Brown, R. H. Friend, I. S. Millard, D. J. Lacey, T. Butler, J. H. Burroughes and F. Cacialli: J. Appl. Phys. 93 (2003) 6159.
23. L. S. Hung, C. W. Tang and M. G. Mason: Appl. Phys. Lett. 70 (1996) 152.
24. S. E. Shaheen, G. Jabbour, M. M. Morrell, Y. Kawabe, B. Kippelen, N. Peyghambarian, M.-F. Nabor, R. Schlaf, E. A. Mash and N. R. Armstrong: J. Appl. Phys. 84 (1998) 2324.
25. M. Matsumura, K. Furukawa and Y. Jinde: Thin Solid Films 331 (1998) 96.
26. H. Heil, J. Steiger, S. Karg, M. Gastel, H. Ortner, H. V. Seggem and M. Stößel: J. Appl. Phys. 89 (2001) 420.
27. W. J. H. van Gennip, J. K. J. van Duren, P. C. Thune, R. A. J. Janssen and J. W. Niemantsverdriet: J. Chem. Phys. 117 (2002) 5031.
28. G. Greczynski, M. Fahlman and W. R. Salaneck: J. Chem. Phys. 113 (2000) 2407.
29. S. K. M. Jönsson, H. Södergren, P. Norman, M. Chen, M. Berggren, W. R. Salaneck and M. Fahlman: in manuscript (2005).
30. P. Dannetun, M. Boman, S. Stafström, W. R. Salaneck, R. Lazzaroni, C. Fredriksson, J. L. Bredas, R. Zamboni and C. Taliani: J. Chem. Phys. 99 (1993) 664.
31. S. K. M. Jönsson, W. R. Salaneck and M. Fahlman: J. Mater. Res. 18 (2003) 1219.
32. M. Fahlman, W. R. Salaneck, S. C. Moratti, A. B. Holmes and J. L. Bredas: Chem. Eur. J. 3 (1997) 286.
33. M. Löglund and J. L. Bredas: J. Chem. Phys. 101 (1994) 4357.
34. R. Schlaf, B. A. Parkinson, P. A. Lee, K. W. Nebesny, G. Jabbour, B. Kippelen, N. Peyghambarian and N. R. Armstrong: J. Appl. Phys. 84 (1998) 6729.
35. M. G. Mason, C. W. Tang, L.-S. Hung, P. Raychaudhuri, J. Madathil, D. J. Giesen, L. Yan, Q. T. Le, Y. Gao, S.-T. Lee, L. S. Liao, L. F. Cheng, W. R. Salaneck, D. A. d. Santos and J. L. Bredas: J. Appl. Phys. 89 (2001) 2756.
36. G. Greczynski, M. Fahlman and W. R. Salaneck: J. Chem. Phys. 114 (2001) 8628.
37. S. J. Chase, M. G. Mitch, J. S. Lannin and C. G. Olson: Phys. Rev. B 58 (1998) 15491.
38. P. Rudolf, M. S. Golden and P. A. Brühwiler: J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 100 (1999) 409.
39. T. Takahasi, S. Suzuki, T. Morikawa, H. Katayama-Yoshida, S. Hasegawa, H. Inokuchi, K. Seki, K. Kikuchi, S. Suzuki, K. Ikemoto and Y. Achiba: Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 1232.