Effects of stress and electric field on the electromechanical properties of Pb(Mg 1/3Nb 2/3)O 3-0.32PbTiO 3 single crystals

Journal of Applied Physics

Volumn 98, Issue 2, 2005, Pages

  Wan, Q ^a   Chen, C ^a   Shen, Y P ^a  

^a XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BIAS STRESS; ELECTROMECHANICAL PROPERTIES; MORPHOTROPIC PHASE BOUNDARY; RELAXOR;

ELECTRIC FIELDS; PIEZOELECTRICITY; POLARIZATION; SINGLE CRYSTALS; STRAIN; TENSILE STRESS;

LEAD COMPOUNDS;

EID: 23844488119     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1985979     Document Type: Article

References (34)

1. S. Park and T. R. Shrout, J. Appl. Phys. 82, 1804 (1997).
2. R. F. Service, Science 275, 1878 (1997).
3. H. Fu and R. E. Cohen, Nature (London) 403, 281 (2000).
4. S. W. Choi, T. R. Shrout, S. J. Jang, and A. S. Bhalla, Mater. Lett. 8, 253 (1989).
5. Z. G. Ye and M. Dong, J. Appl. Phys. 87, 2312 (2000).
6. S. W. Choi and J. M. Jung, Ferroelectrics 189, 27 (1996).
7. G. S. Xu, H. S. Luo, H. Q. Xu, and Z. Yin, Phys. Rev. B 64, 020102 (2001).
8. D. Viehland, J. F. Li, and A. Amin, J. Appl. Phys. 92, 3985 (2002).
9. B. Noheda, Z. Zhong, D. E. Cox, G. Shirane, S.-E. Park, and P. Rehrig, Phys. Rev. B 65, 224101 (2002).
10. Z. G. Ye, B. Noheda, M. Dong, D. Cox, and G. Shirane, Phys. Rev. B 64, 184114 (2001).
11. L. Bellaiche, A. Garcia, and D. Vanderbilt, Phys. Rev. Lett. 84, 5427 (2000).
12. L. Bellaiche, A. Garcia, and D. Vanderbilt, Phys. Rev. B 64, 060103 (2001).
13. Y. Lu, D. Y. Jeong, Z. Y. Cheng, Q. N. Zhang, H. S. Luo, Z.-W. Yin, and D. Viehlaid, Appl. Phys. Lett. 78, 3109 (2001).
14. S. F. Liu, S. Park, T. R. Shrout, and L. E. Cross, J. Appl. Phys. 85, 2810 (1999).
15. T. Liu and C. S. Lynch, Acta Mater. 51, 407 (2003).
16. D. Viehland and J. F. Li, J. Appl. Phys. 94, 7719 (2003).
17. J. Christelle, J. F. Li, and D. Viehland, J. Appl. Phys. 95, 5671 (2004).
18. D. Viehland, J. F. Li, K. Gittings, and A. Amin, J. Appl. Phys. 83, 132 (2003).
19. H. Cao, B. Fang, H. Xu, and H. Luo, Mater. Res. Bull. 37, 2135 (2002).
20. C. S. Tu, J. Appl. Phys. 89, 7908 (2001).
21. E. A. McLaughin, T. Liu, and C. S. Lynch, Acta Mater. 52, 3849 (2004).
22. D. Viehland, J. Powers, L. Ewart, and J. F. Li, J. Appl. Phys. 88, 4907 (2000).
23. D. Viehland and J. Powers, Appl. Phys. Lett. 78, 3112 (2001).
24. D. Viehland and J. Powers, J. Appl. Phys. 89, 1820 (2001).
25. D. Viehland, J. Appl. Phys. 90, 2479 (2001).
26. D. Viehland, J. Appl. Phys. 95, 1969 (2004).
27. B. Noheda, D. Cox, G. Shirane, S.-E. Park, L. E. Cross, and Z. Zhong, Phys. Rev. Lett. 86, 3891 (2001).
28. J. K. Shang and X. Tan, Acta Mater. 49, 2993 (2001).
29. Z. R. Li, Z. Z. Xi, Z. Xu, and X. Yao, J. Mater. Sci. Lett. 21, 1325 (2002).
30. J. Shieh, J. E. Huber, and N. A. Fleck, Acta Mater. 51, 6123 (2003).
31. J. P. Han and W. W. Cao, Appl. Phys. Lett. 83, 2040 (2003).
32. P. Sarrazin, B. Thierry, and J. C. Niepce, J. Eur. Ceram. Soc. 15, 623 (1995).
33. S. Wada, J. Appl. Phys. 38, 5505 (1999).
34. A. K. Singh and D. Pandey, Phys. Rev. B 67, 064102 (2003).