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Volumn 45, Issue 2, 1999, Pages 132-139
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Generalización del método de mediciones interferométricas múltiples en pruebas de superficies ópticas
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Author keywords
Flat optical surface; Interferometric measurements
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Indexed keywords
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EID: 2342581364
PISSN: 0035001X
EISSN: None
Source Type: Journal
DOI: None Document Type: Article |
Times cited : (14)
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References (16)
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