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Volumn 45, Issue 2, 1999, Pages 132-139

Generalización del método de mediciones interferométricas múltiples en pruebas de superficies ópticas

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Flat optical surface; Interferometric measurements

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EID: 2342581364     PISSN: 0035001X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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    • 85022106334 scopus 로고    scopus 로고
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    • Fermín Salomón Granados Agustín, Tesis Doctoral, INAOE, Puebla, México, 1998.
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.